中文English
科米瑞
首页联系我们
  1. 首页
  2. 产品中心
  3. 产品详情
科米瑞

© Copyright 科米瑞 2026

产品中心产品目录应用领域知识中心常见问题联系我们隐私政策桂ICP备2020008265号-5
广西科米瑞实验仪器设备有限公司13422079856122816084@qq.com
分析检测仪器生命科学仪器显微成像与光学样品前处理温控加热与制冷真空泵阀与流体科米瑞仪器应用领域实验室仪器选型

D8 DISCOVER Plus

D8 DISCOVER Plus

The ATLAS goniometer raises the bar for precision and accuracy. With increased capacity, it opens new dimensions with the available Non-coplanar arm.

品牌: Bruker价格: 面议服务区域: 全国

广西科米瑞实验仪器设备有限公司提供 Bruker D8 DISCOVER Plus 产品资料、选型咨询、供货报价和售后服务支持,价格面议。

立即询价查看更多详情咨询该型号
← 返回产品列表
D8 DISCOVER Plus
说明规格FAQ

说明

D8 DISCOVER Plus - 观看视频

D8 DISCOVER Plus是市面上功能最强大、最全能的X射线衍射仪。

其核心在于高精度ATLAS测角仪,它具有高效的Turbo X射线源(TXS-HE)和市场领先的非共面臂。

它专为在环境条件下和非环境条件下,对从粉末、非晶和多晶材料到外延多层薄膜等各种材料进行结构表征而设计。

定性相分析和定量相分析、结构测定和精修、微应变和微晶尺寸分析

X射线反射法、掠入射衍射(GID)、面内衍射、高分辨率XRD、GISAXS、GI应力分析、晶体取向分析

残余应力分析、织构和极图、微区X射线衍射、广角X射线散射(WAXS)

总散射分析:Bragg衍射、对分布函数(PDF)、小角X射线散射(SAXS)

D8 DISCOVER Plus可配备非共面臂,以无与伦比的性能进行面内衍射测量。

2θ可达160°,在测定d间距时,具有无与比拟的准确性。

通过角度编码器,即可实现无可匹敌的精度。

专用的光路组件,可提高测量强度,您甚至能够获取超薄多晶薄膜的信号。

可与DIFFRAC.SUITE软件和DIFFRAC.DAVINCI无缝集成,从而最大限度地提高效率。

ATLAS™ 测角仪

在X射线衍射中,测角仪以及已安装组件的精确定向(尤其是测量时)是实现精准的样品分析的基础。ATLAS测角仪通过设计充分地满足了这些要求,并设定了角和空间精度的基准:

坚固且免维护的测角仪

带有高分辨率光学编码器的高精度步进电机

受软件监控的精确接口,用于组件安装

测得的峰值位置和认证的峰值位置2Theta的角度偏差∆2Theta≤0.007°。这一点可通过使用单独仪器,以NIST认证的SRM1976标准进行测量来进行验证。

阅读有关布鲁克准直保证的更多信息

TXS-HE X射线源

不论X射线分析工具的关键指标是数据质量(定义为信噪比或信噪比-背景)还是样品吞吐量,更多的信号始终是一大优势。

高效Turbo X射线源(TXS-HE)旨在增强信号的同时,最大程度地减少阳极旋转技术相关的维护。

强度是工业密封管的5倍

线焦点:无与伦比的焦点亮度,即6 kW / mm2

与光学器件的理想结合,可实现最大强度

减少光路长度,从而最大限度地减少空气散射

阅读有关X射线源的更多信息

ATLAS™测角仪

具有MONTEL光学器件的IμS微焦源

规格

规格优势
TWIST-TUBE轻松在点焦点和线焦点之间切换 可用阳极材料:Cr、Cu、Mo、Ag 最高功率和灯丝:最高3 kW,取决于阳极材料(0.4 x 16mm²) 专利:EP 1 923 900 B1 / 快速改变波长,以理想地匹配不同应用 可以最快的速度在线焦点和点焦点之间切换,因此扩展了应用范围,并且可在更短的时间内,获得更好的结果。
Iµs 微焦源功率负载:最高50 W,单相功率 MONTEL和MONTEL Plus光学器件:结合了平行镜和聚焦镜 光束尺寸:低至180 x 180 µm² 镜出口最大积分通量:8 x 10⁸ cps 光束发散度:低至0.5 mrad / 毫米大小的光束:高亮度和超低背景 绿色环保设计:低功耗、无耗水、使用寿命更长 优化光束形状和发散,以获得最佳结果
TXS-HE X射线源垂直ATLAS测角仪的紧凑轻巧设计 线焦点,0.3x3mm² 焦斑亮度为6 kW /mm² 阳极材料:Cu,Co,Cr,Mo 最高最大电压50 kV功率取决于阳极材料:Cr 3.2 kW,Cu / Mo 5.4 kW,Co 2,8 kW 预对准钨丝 / 高通量X射线源,允许水平安装样品。强度是标准陶瓷X射线源的5倍 是线焦点和点焦点应用的理想之选 预对准的灯丝支持快速更换,极大地降低了对重新对准的要求。
TRIO Optics软件按钮切换:电动发散狭缝(Bragg-Brentano) 高强度Ka1,2平行光束 高分辨率Ka1平行光束 专利:US10429326、US6665372、US7983389 / 可在多达6种不同的光束几何之间进行全自动化电动切换,无需人工干预 是所有类型的样品的理想之选,包括粉末、块状材料、纤维、片材和薄膜(非晶、多晶和外延)
高分辨率单色器对称几何和非对称几何中的Ge(220)和Ge(004)反射 2-b和4-b(Bartels型)单色器 利用SNAP.LOCK技术,进行免对准安装 / 在最佳分辨率与强度平衡方面,为您提供广泛选择,助您获取最佳结果 可快速更换单色仪,针对不同样品进行优化
ATLAS™测角仪立式测角仪,采用强化的机械设计,面向的是TXS-HE X射线源 业界领先的角度精度:在NIST SRM 1976确定的整个角度范围内,保证±0.007°2θ 无缝集成D8系列组件:包括光学器件、定位摄像头、样品台、非环境和探测器技术 / 布鲁克独有的准直保证,为无与伦比的精确度提供了保证 绝对免维护的驱动机构/齿轮装置,终身润滑 支持所有应用程序,以生成最高精度的数据

相关产品

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER

D8 DISCOVER

提交需求

请填写必填信息,我们将在工作日尽快回复。

非共面臂第三测角仪轴,用于研究超薄层和面内样品特性:最小步长:0.001° 最高2θ范围(取决于配置):160° 探测器自动距离检测 / 通过角度编码器,即可获得无与伦比的精度 与DIFFRAC.SUITE软件无缝集成 范围高达160°2θ,可最准确地测定非共面结构 EIGER2探测器提供实时校准
紧凑的UMC样品台Compact UMC Plus 80: XRPD快速旋转器 最大(x, y)移动:+/- 40毫米 最高样品高度:57毫米 Compact UMC Plus 150: 最高(x, y)移动:+/- 75毫米 最高样品高度:57毫米 用于硅片夹和倾斜台的真空和电力通孔 / 可在薄膜研究和粉末衍射模式之间无缝切换 5位进样器:样品直径为51 mm 9位自动进样器:样品直径为32mm 扫描2-4英寸晶圆 扫描6-8英寸晶圆 反射模式:96孔板 在连接倾斜样品台和真空样品台的情况下,可不受限制地进行P
Centric Eulerian Cradle (CEC)样品台:5个自由度 x、y:+/- 40 mm样品移动 z:高度对准 Phi:360°旋转 Psi:-11°-98° 最高承载重量:1kg 提供各种样品台附件 / 侧面倾斜时可进行应力和织构测量,以获取更高的精度。(x,y):自动映射功能。电动倾斜台:可精确对准表面。粉末或毛细管旋转器:可用于粉末衍射。Bayonette样品台支持器:可与其他样品台快速、可重复地互换。
Pathfinder Plus Optics软件按钮切换:电动狭缝 2-b Ge分析晶体 集成自动吸收器 / 可在两种不同的光学器件之间全自动地进行电动切换,无需人工干预。保持了LYNXEYE探测器的完整视野。利用吸收器,确保了测得数据的线性。
LYNXEYE XE-T能量分辨率:8 KeV时,<380 eV 检测模式:0D、1D、2D 波长:Cr、Co、Cu、Mo和Ag 专利:EP1647840、EP1510811、US20200033275 / 无需Kß过滤器和二级单色仪 铜辐射即可100%过滤铁荧光 速度比传统探测器系统快450倍 Bragg2D:使用发散的初级线束收集2D数据 独一无二的探测器保修:交货时绝无不良通道
EIGER2Dectris Ltd.开发的基于混合光子计数技术的新一代探测器,支持多种模式(0D / 1D / 2D)。/ 在分步扫描、连续扫描和高级扫描模式种无缝集成0D、1D和2D检测。符合人体工程学的免对准探测器旋转功能,可优化γ或2Ɵ角度范围 使用完整的探测器视野、免工具全景衍射光束光学系统 连续可变的探测器位置,以平衡角度范围和分辨率
非环境温度:范围从~-4 K到~2500 K 压力:10-⁴mbar至100 bar 湿度:5%至95% / 在环境和非环境条件下进行调查 凭借DIFFRAC.DAVINCI,轻松更换样品台
总散射分析Bragg衍射、对分布函数(PDF)、小角X射线散射(SAXS)
线焦点无与伦比的焦点亮度,即6 kW / mm2
掠入射衍射(GID)晶相表面灵敏识别及结构性质测定,包括微晶尺寸和应变。
X射线反射法(XRR)用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
面内掠入射衍射(IPGID)可将穿透深度减至nm,从而实现表面隔离并提高对具有原子厚度的层的灵敏探测。
掠入射衍射(GID)晶相表面灵敏识别及结构性质测定,包括微晶尺寸和应变
X射线反射率测量(XRR)用于提取从简单的基底到高度复杂的超晶格结构等多层样品的厚度、材料密度和界面结构信息。
高分辨率X射线衍射(HRXRD)用于分析外延生长结构:层厚度、应变、弛豫、镶嵌、混合晶体的成分分析。
可用阳极材料Cr、Cu、Mo、Ag
最高功率和灯丝最高3 kW,取决于阳极材料(0.4 x 16mm²)
专利EP 1 923 900 B1
功率负载最高50 W,单相功率
MONTEL和MONTEL Plus光学器件结合了平行镜和聚焦镜
光束尺寸低至180 x 180 µm²
镜出口最大积分通量8 x 10⁸ cps
光束发散度低至0.5 mrad

FAQ