用于材料研究的蔡司Axio Imager 2
在您从事先进的材料研究时,Axio Imager 2可帮助简化光学显微镜工作流。蔡司Axio Imager 2能够对材料生成准确且可重复的结果。选择适合您应用的系统,使用颗粒分析等专用共聚焦或关联显微镜解决方案扩展您的设备
广西科米瑞实验仪器设备有限公司生产销售 Carl Zeiss Microscopy 用于材料研究的蔡司Axio Imager 2,可提供产品参数、报价和售后服务咨询,价格面议。
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用于材料研究的蔡司Axio Imager 2
在您从事先进的材料研究时,Axio Imager 2可帮助简化光学显微镜工作流。蔡司Axio Imager 2能够对材料生成准确且可重复的结果。选择适合您应用的系统,使用颗粒分析等专用共聚焦或关联显微镜解决方案扩展您的设备。
如要获得准确的结果,稳定性必不可少。Axio Imager 2具有稳定的成像条件,而在使用高放大倍率或进行对时间有高要求的研究时,该特性更为显著。Axio Imager 2的电动化设计可以获得快速且可重复的结果,同时始终在恒定条件下工作。
无论是学术还是工业研究,材料显微镜都面临着各种各样的挑战。借助Axio Imager 2,您将能够直面并战胜这些挑战。您可以连接特定于应用的组件,进行颗粒分析等工作,也可以检测非金属夹杂物(NMI)、液晶或基于半导体的MEM。借助专用共聚焦或关联显微镜解决方案,您的设备功能将得到扩展。
使用不同观察方式观测金属、复合材料或液晶等一系列材料。
使用反射光,在明场、暗场、微分干涉相差(DIC)、圆微分干涉相差(C-DIC)、偏光或荧光下观察样品。
使用透射光,在明场、暗场、微分干涉相差(DIC)、偏光或圆偏光下检测样品。观察方式管理器能确保照明设置可复制。
偏光(正交偏光) 偏光(正交偏光) 偏光(正交偏光)
使用附加了Lambda补偿器的偏光 使用附加了Lambda补偿器的偏光 使用附加了Lambda补偿器的偏光
使用附加了Lambda补偿器的偏光
圆微分干涉相差(C-DIC) 圆微分干涉相差(C-DIC) 圆微分干涉相差(C-DIC)
圆微分干涉相差(C-DIC)
球墨铸铁,抛光样品,使用不同观察方式在相同位置成像(观察视野265 µm)。图像由德国凯瑟尔斯多夫的H.-L. Steyer博士提供。
Axio Imager.Z2m或Axio Imager.M2m可在触摸屏上显示关键操作功能,手指轻松点击便可控制所有电动组件。其他控制按钮依照人体工程学设计排列在对焦驱动装置周边,带有触觉反馈的表面使其易于区分。Axio Imager.D2m有5个预编程按钮,Axio Imager.Z2m则有10个用户自定义按钮。Axio Imager.A2m已编码。
您是否想研究温度对金属、晶体、陶瓷或塑料的影响?
借助ZEN core和Linkam加热台,您可以定制加热或冷却实验。在时间序列中温度模式会得到记录,实验结果将包含每幅时间序列图像中的温度和真空数据。您可以在质量控制等应用领域中观察样品在加热和冷却过程中的变化。
材料科学——液晶 德国波鸿鲁尔大学的A. Getsis和A. Mudring提供 [C14mim]Br在100℃时在THMS 600 Linkam加热台上的液晶相,偏光观察方式,物镜:EC EPIPLAN 10x/0.20。图像:由 材料科学——液晶
[C14mim]Br在100℃时在THMS 600 Linkam加热台上的液晶相,偏光观察方式,物镜:EC EPIPLAN 10x/0.20。图像:由
材料科学——金属 以Barker偏光观察阳极氧化的AlNi3.5,物镜:EC EPIPLAN NEOFLUAR 20x/0.50。图像由德国亚琛ACCESS e.V.和亚琛工业大学铸造研究所提供 材料科学——金属
以Barker偏光观察阳极氧化的AlNi3.5,物镜:EC EPIPLAN NEOFLUAR 20x/0.50。图像由德国亚琛ACCESS e.V.和亚琛工业大学铸造研究所提供
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材料科学——碳纤维 Axio Imager拍摄的碳纤维截面荧光图像 材料科学——碳纤维
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