用于材料研究的蔡司Axio Observer

用于材料研究的蔡司Axio Observer

使用蔡司Axio Observer即可快速检测、开发和分析材料，特别是金相样品，让您尽享倒置设计的优势。Axio Observer将高品质蔡司光学元件与自动化组件相结合，提供可靠且可重复的结果。通过专用软件模块，您可以分析非金属夹杂物（NMI）和晶粒尺寸等数据。Axio Observer是适合您的开放式成像平台，您只需购买目前所需的功能。

可靠结果和出色图像质量值得信赖

利用Axio Observer缩短样品制备和检测时间。

其倒置光学设计便于平行对准物镜，您只需将样品放在载物台上，对焦一次，并为之后的放大和样品保持该对焦状态，便可以更短的时间观察更多的样品。

即使在改变放大倍率或切换冶金样品时，也无需重新对焦。

Axio Observer的稳定成像条件将为您带来全新的体验，在高放大倍率下工作时更能提供出色表现。全观察视野下的均匀照明保证了高图像质量。

通过各种蔡司光学元件和自动化组件的组合，每次都能获得可靠且可重复的结果。

利用NMI、Grains、Multiphase等专用软件模块进行金相结构分析，确保快速成像。

根据预算灵活选择。对于Axio Observer，只需购买目前所需的功能。

当需求改变时，您可以随时升级系统。

有编码或电动组件及一系列配件任您选择，您可以放心使用应用所需的所有相关观察方式。

有三种自动化和电动化程度不同的配置可供选择

巴克蚀刻铝，反射光，圆偏光观察方式

巴克蚀刻铝，反射光，圆偏光观察方式，物镜：EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0.13 HD DIC。

物镜：EC Epiplan – NEOFLUAR 5x / 0.13 HD DIC

在明暗场中都能获得均匀且无杂散光的图像背景，大大降低了杂散光干扰和色差。

使用固定分析仪、可360°旋转的测量分析仪及带旋转全波片的旋转分析仪，通过偏光观察方式对样品进行检测。即使没有旋转载物台，也可查看各向异性材料的双反射性及多色性。

充分利用圆微分干涉相差（C-DIC）——一种使用圆偏光的偏光技术。

图片说明：巴克蚀刻铝，反射光，圆偏光观察方式，物镜：EC Epiplan – NEOFLUAR 5s / 0.13 HD DIC。

铸铁 球墨铸铁中的球晶石墨，反射光，明场 球墨铸铁中的球晶石墨，反射光，明场

球墨铸铁中的球晶石墨，反射光，明场

铸铝 铸铝硅，反射光，暗场 铸铝硅，反射光，暗场

蚀刻铝 巴克蚀刻铝，反射光，C-DIC 巴克蚀刻铝，反射光，C-DIC

巴克蚀刻铝，反射光，C-DIC

锌 锌，反射光，λ波片偏光观察方式 锌，反射光，λ波片偏光观察方式

锌，反射光，λ波片偏光观察方式

红砷镍矿 红砷镍矿，反射光，λ波片偏光观察方式 红砷镍矿，反射光，λ波片偏光观察方式

红砷镍矿，反射光，λ波片偏光观察方式

请参阅“用于材料研究的Axio Observer”的金相应用。

ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research 14 MB 下载 显示更多

ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals Multi-modal characterization and advanced analysis options for industry and research 14 MB 下载

ZEISS Microscopy Solutions for Steel and Other Metals

Microscopic Methods in Metallography Using ZEISS Axio Observer and ZEISS Axio Imager 5 MB 下载 显示更多

Microscopic Methods in Metallography Using ZEISS Axio Observer and ZEISS Axio Imager 5 MB 下载

Microscopic Methods in Metallography

用于材料分析的蔡司Axio Zoom.V16 大孔径和长工作距离，从全景到微小细节无缝变倍。

大孔径和长工作距离，从全景到微小细节无缝变倍。

用于材料研究的蔡司Axio Imager 2 用于自动材料分析的开放式正置显微镜，采用模块化设计并配备各种电动和编码组件。

用于自动材料分析的开放式正置显微镜，采用模块化设计并配备各种电动和编码组件。