蔡司Versa X射线显微镜

蔡司Versa X射线显微镜

蔡司Versa X射线显微镜（XRM）功能强劲，是全球研究人员和科学家的可靠之选。VersaXRM提供直观的用户界面，确保每位用户能够充分提高工作效率并获得满意的结果。VersaXRM注重优化实际设置中的真实分辨率，出众的清晰度助您目尽毫厘。蔡司以出色的稳定性和准确性享誉全球，其对质量的承诺在VersaXRM的每个细节中都得以充分体现，高端机型VersaXRM 730的专属定制ZXR-1 X射线源便是有力印证。您的投资必定会经受住时间的考验，解您未来之需。

出色的分辨率与出众的性能相得益彰——蔡司VersaXRM 730

更快的亚微米级成像——蔡司VersaXRM 615

灵活且易于使用——蔡司Xradia 515 Versa

VersaXRM 730 相较市面上其他先进的X射线显微镜，蔡司VersaXRM 730可提供更广泛的选择。该系统具有突破性的图像分辨率性能，通过直观的用户体验全面提升操作便捷性，并通过更高的通量和更快的结果获取显著提高效率。现已标配25W ZXR-1 X射线源。450 nm空间分辨率搭配出色性能 ZEN navx以用户为本的导航和控制 一分钟断层扫描和端到端三维重构 查看产品优势

VersaXRM 730

相较市面上其他先进的X射线显微镜，蔡司VersaXRM 730可提供更广泛的选择。该系统具有突破性的图像分辨率性能，通过直观的用户体验全面提升操作便捷性，并通过更高的通量和更快的结果获取显著提高效率。现已标配25W ZXR-1 X射线源。

450 nm空间分辨率搭配出色性能

ZEN navx以用户为本的导航和控制

一分钟断层扫描和端到端三维重构

VersaXRM 615 蔡司VersaXRM 615通过创新的射线源和光学技术拓展了您的研究极限。更高的通量和基于人工智能的重构可提供更快的断层扫描速度，同时具有出色的分辨率和衬度。大工作距离高分辨率，500 nm空间分辨率 25W X射线源 基于平板的快扫模式 查看产品优势

VersaXRM 615

蔡司VersaXRM 615通过创新的射线源和光学技术拓展了您的研究极限。更高的通量和基于人工智能的重构可提供更快的断层扫描速度，同时具有出色的分辨率和衬度。

大工作距离高分辨率，500 nm空间分辨率

Xradia 515 Versa 作为一款工作平台，蔡司Xradia 515 Versa提供出色的分辨率，打破了三维成像的一微米分辨率壁垒，使中型成像中心和工业实验室这样的机构更加实用化，能进行同步辐射质量级的研究。500 nm的空间分辨率 可实现40 nm的最小体素 10 W快速激活闭管源 查看产品优势

Xradia 515 Versa

作为一款工作平台，蔡司Xradia 515 Versa提供出色的分辨率，打破了三维成像的一微米分辨率壁垒，使中型成像中心和工业实验室这样的机构更加实用化，能进行同步辐射质量级的研究。

500 nm的空间分辨率

可实现40 nm的最小体素

蔡司VersaXRM ® 730配备特色40×-Prime物镜，可在30-160 kV的范围内提供450-500 nm分辨率的亚微米成像。其ZEN navx ® 自动化用户导航和控制系统以及由人工智能驱动的DeepRecon Pro可简化工作流、优化图像质量并提高通量。为了提高操作便捷性，该设备经过精心设计，支持广泛的用户群体，让您的整个团队都能轻松掌握高级研究功能。为蔡司专属研发的ZXR-1 创新型X射线源，作为VersaXRM 730标准配置，进一步践行VersaXRM“守护您的设备投资”承诺，为持续技术创新奠定平台基础。

小鼠模型在生理学和遗传方面与人类高度相似，因此是遗传研究的重要工具。无损X射线显微镜是研究此类样品的理想成像技术。通过碘染色的E15.5小鼠胚胎在VersaXRM 730上使用FAST模式进行成像，总扫描时间为6分钟。样品由贝勒医学院的Chih-Wei Logan Hsu提供。

探索蔡司VersaXRM 730的无限潜能，尽享其特色的40×-Prime物镜、屡获殊荣的ZEN navx以及定制化ZXR-1 X射线源。该系统凭借出众的图像分辨率性能，重新定义了亚微米成像，为您的研究带来了全新的突破性功能。ZEN navx利用智能系统的洞察力简化工作流，确保轻松高效地获取结果。基于人工智能的重构为出色的图像质量提供加持，DeepRecon Pro有效提高通量，而FAST模式可在一分钟内实现断层扫描。使用蔡司VersaXRM 730，开启探索样品的新时代。

借助出众的分辨率性能来革新您的研究

蔡司VersaXRM 730搭载特色的40×-Prime物镜，助您在30 kV至160 kV的完整源电压范围内实现450-500 nm的出色图像分辨率性能。这一特色为研究人员解锁了全新的应用程序功能，推动了亚微米成像分辨率的行业标准发展。此外，随着X射线光子的增加，可在不影响分辨率的情况下更快获取各种样品的结果。蔡司VersaXRM以实现大工作距离高分辨率（RaaD™）的功能而闻名，始终能够在长尺度范围内对多种样品类型和尺寸进行高分辨率成像。凭借VersaXRM 730特色的40×-Prime物镜和更高的能量，如今您将体验到超越以往的亚微米成像。

蔡司DeepRecon Pro已成为XRM重构的强大工具，因此VersaXRM 730包含了ART高性能工作站和DeepRecon Pro（许可证为期两年）。

DeepRecon Pro是一项基于人工智能的创新技术，可为各种应用带来出色的效率和图像质量优势。DeepRecon Pro既适用于单个样品，也适用于半重复和重复的工作流。用户现可通过使用简便易用的界面在现场独立训练全新的机器学习网络模型。DeepRecon Pro的一键式工作流让新手用户也能熟练操作，无需熟知机器学习技术的专家从旁辅助。

阿姆科铁样品的无损三维晶粒图，以及可在典型LabDCT Pro数据集上执行的各种晶粒分析的插图。

用于衍射衬度断层扫描（DCT）的LabDCT Pro仅为蔡司VersaXRM 730提供，可实现对晶粒取向和微观结构的无损三维成像。三维晶粒取向的直接可视化开辟了多晶材料表征的新维度（如金属合金、地质材料、陶瓷或药品）。

LabDCT Pro支持从立方对称的晶体结构到低对称系统（如单斜晶系材料）的样品。

使用专用4X DCT物镜采集高分辨率晶体信息。对于更大样品，使用平板探测器（FPX）进行大面积高效率面分布成像。

对更大的代表性体积和各种不同的样品几何形状进行全面的三维微观结构分析。

利用四维成像实验研究微观结构演化。

将三维晶体信息和三维微观结构特征相结合。

结合多种模式以了解结构-属性关系。

双扫描衬度可视化系统（DSCoVer）为VersaXRM 730所独有，通过结合在两种不同X射线能量下拍摄的断层图像信息，扩展了在单个能量吸收图像中捕获的细节。DSCoVer（双扫描衬度可视化系统）充分利用X射线与材料中的有效原子序数和密度的相互作用，以此为您提供较好的区分能力，例如，它能够识别岩石内的矿物差异性、区分硅和铝等难以辨识材料的差异。

旗舰产品VersaXRM 730提供额外的特色和成像功能。

使用先进的采集技术，如高纵横比断层扫描成像（HART），提高大体积、扁平或不规则样品的扫描速度和精度。

利用宽场模式（WFM）对大型样品进行灵活成像，可用于横向拼接投影图像，以形成更广的横向观察视野，为给定的观察视野提供更高的体素密度，或为大型样品提供宽横向观察视野和更大的三维体积。

自动滤光片转换器（AFC）无需手动干预即可实现无缝滤光片转换，并针对每个配方对您的选择进行编程和记录。