显微镜解决方案 STM7

可按照个人需求进行测量的 显微镜

无论样品大小、简单还是复杂，或执行测量的人员经验如何，奥林巴斯STM7系列可提供符合您需求的测量显微镜。

STM7系列采用了当前先进光学显微镜中所使用的UIS2无限远校正光学系统。因此，观察到的图像具有高分辨率和高对比度，像差也被完全消除，以确保实现对微小细节的高精度测量。

花岗岩精制而成的载物台基座增强了测量的可靠性

为了进一步保证测量精度，STM7系列采用了一个配备花岗岩基座的高度耐用和防振动的镜架。由于花岗岩的高稳定性，使测量可到达亚微米水平，并大大降低误差。

随着现代制造技术日益小型化和精密化，高精度测量也日趋重要 — 不仅是XY轴平面的测量，Z轴方向的高精度测量也成为必须。为此，奥林巴斯开发了采用主动反射、共聚焦方法的自动聚焦系统。

由Olympus Corporation测试与分析中心颁发并由ILAC-MRA校准认证机构（JCSS、JAB）认证的校准证书。可追溯系统因不同时期和国家/地区而异。STM7校准中使用的样品已在各个国家/地区进行了校准。详情奥林巴斯。

可追溯系统因不同时期和国家/地区而异。STM7校准中使用的样品已在各个国家/地区进行了校准。详情奥林巴斯。

严格的可追溯系统确保品质可靠

奥林巴斯通过一个严格的可追溯系统控制测量显微镜的精度，此外，在安装系统时，奥林巴斯还提供可追溯的校准服务。

可靠的模块化系统 五种配置让您可以灵活选择所需功能。

五种配置让您可以灵活选择所需功能。

STM7-CS100 载物台：100 mm x 100 mm

STM7-CS200 载物台：200 mm x 200 mm

STM7-CS300 载物台：300 mm x 300 mm

自动对焦单元 STM7-AF

测量支持软件 STM7-BSW

测量支持软件 （多图像拼接/MIA和景深扩展图像/EFI） STM7-ASW-ME

BF：明场 DF：暗场 DIC：微分干涉对比度 POL：偏振光

常见问题 短测量行程无法满足较大样品的测量需求{• 由于X轴测量区域短于Y轴测量区域，因此必须旋转样品 由于可测量的范围窄，无法将数量较多的样品排列在载物台上，以实现一次性同时测量

短测量行程无法满足较大样品的测量需求{• 由于X轴测量区域短于Y轴测量区域，因此必须旋转样品

由于可测量的范围窄，无法将数量较多的样品排列在载物台上，以实现一次性同时测量

STM7解决方案 STM7提供300 mm x 300 mm载物台，能够测量较大的样品，包括300 mm晶圆和印刷电路板。X轴和Y轴测量区域长度相等，因此无需旋转样品 较长的X轴和Y轴测量区域允许在载物台上排列多个样品，实现更高效的测量

STM7提供300 mm x 300 mm载物台，能够测量较大的样品，包括300 mm晶圆和印刷电路板。