Aeris 研究版
Aeris 研究版
可用性与性能相结合，让您的实验室工作达到更高水平。更全面的信息和更深入的见解，这样就能更有效地获得结论、完善材料、提高知识、推动科学前沿。无论您从事哪种项目，从目标样品中快速获取物相信息对于您的研究都至关重要
广西科米瑞实验仪器设备有限公司提供 Malvern Panalytical Aeris 研究版 产品资料、选型咨询、供货报价和售后服务支持，价格面议。
← 返回产品列表
说明
可用性与性能相结合，让您的实验室工作达到更高水平。
更全面的信息和更深入的见解，这样就能更有效地获得结论、完善材料、提高知识、推动科学前沿。
无论您从事哪种项目，从目标样品中快速获取物相信息对于您的研究都至关重要。
通过包括 X 射线反射率测量（XRR）、反射模式、透射模式和掠入射 X 射线衍射（GIXRD）在内的测量配置，您能够获得任何类型多晶材料的最佳分析数据。
Aeris 是易于操作、用户友好的台式 X 射线衍射仪。凭借其直观的操作，Aeris使X射线衍射变得如此简单，以至于每个人都可以使用。触摸屏用户界面让您轻松完成样品的测量过程。只需轻点几下即可出结果：
Aeris 是您对粉末样品进行快速、可靠物相鉴别和 Rietveld 分析的主力。
所采用的技术已在马尔文帕纳科的高端系统上证明了其优势，Aeris 研究版提供的数据质量是以前只有全尺寸落地式系统才能做到的。
使用可选的 2D 检测器，您可通过可视方式教授粉末衍射基础知识。
Aeris 十分灵活，为各种粉末衍射测量提供可能性。
The instrument is desktop, easy to use, analyzes the samples very quickly and is economic."
1Der 一维检测的终极多功能性和数据清晰度
PIXcel3D 第一款为您的衍射仪提供 0D-1D-2D 和 3D 数据的探测器
第一款为您的衍射仪提供 0D-1D-2D 和 3D 数据的探测器
HighScore 适用于物相鉴定等应用的全谱图方法
HighScore Plus 面向晶体学分析等应用的理想工具
XRD2DScan 2D 数据的可视化和转换
BTS 150/500 – benchtop heating stages Cost-effective attachment for non-ambient XRD
Cost-effective attachment for non-ambient XRD
规格
| 样品加载 | 外部样品装载 |
|---|---|
| Sample holders | 各种全尺寸样品杯可满足所有要求 |
| 样品更换 | 可选择手动装载台、6 位进样器或 67 位大容量进样器 |
| 自动化 | 与自动化集成兼容 |
| 波长 | 铜或钴 |
| Tube setting | 铜或钴 |
| Tube housing | 专利设计，采用抗腐蚀智能入射光路技术 (CRISP)。CRISP 技术可防止入射光路中出现由 X 射线引起的电离空气造成的腐蚀。专利号 US 8437451 B2。 |
| Base configuration | 垂直测角仪，耦合和解耦 θ-θ，样品始终保持水平 |
| Geometry | Bragg-Brentano，透射，掠入射 |
| Radius | 145 mm |
| Maximum 2θ range | -4°< 2θ≤142°（带扫描探测器和全有效长度） |
| Angle positioning | 直接光学定位 (DOPS3)，在使用期限内始终精准定位 |
| Scan Speed | 最大 2.17°/s |
| 分辨率 | 六硼化镧 (LaB6) 材料中 < 0.04°2θ（带 0.01 rad 索拉狭缝） |
| 2θ linearity | < 0.04° 2θ |
| Smallest addressable increment | 0.001 ° |
相关产品
提交需求
请填写必填信息，我们将在工作日尽快回复。