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Empyrean XAS

Empyrean XAS

借助 Empyrean XAS 解决方案拓展您的多功能 Empyrean X射线衍射仪平台,获取详尽的物质化学局域信息。

品牌: Malvern Panalytical价格: 面议服务区域: 全国

广西科米瑞实验仪器设备有限公司生产销售 Malvern Panalytical Empyrean XAS,可提供产品参数、报价和售后服务咨询,价格面议。

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Empyrean XAS

X射线吸收谱 (XAS) 现已全面集成至 Empyrean X射线衍射仪中。

Empyrean XAS 将基于实验室的 X射线近边吸收谱(XANES) 和扩展X射线吸收精细结构谱(EXAFS) 测量功能,与 Empyrean 现有的 X射线衍射技术 (XRD)、X射线散射技术及成像技术中相结合。

Empyrean XAS 系统为多功能 Empyrean 锐影平台新增 X 射线吸收谱(XAS)测试功能,在原有衍射、散射、成像表征技术基础上拓展了设备分析能力。

借助 Empyrean XAS,可以:

所有表征手段可在同一台仪器上完成,能够保证整套测试的实验条件统一,有效提升实验结果的可重现性与不同测试数据间的可比性。

更深入的材料认知。更简化的实验流程。

了解详情:X射线吸收光谱法在实验室 X射线粉末衍射仪中的应用(文章)

XAS 可为特定元素的局部化学环境提供直接洞察。通过测量元素吸收边附近的 X射线吸收情况,X射线吸收谱 (XAS) 可获取的材料信息:

Empyrean X射线衍射仪采用专用的透射配置开展 XAS 测量,确保能量扫描始终稳定且具备优异的重现性。

X 射线近边吸收谱 (XANES) 可提供吸收边附近的氧化态与电子结构信息,而扩展X射线吸收精细结构谱 (EXAFS) 则可在较高能量范围内探测原子的短程有序性。

当与衍射及散射技术结合时,XAS 有助于研究人员在单次实验工作流程中,实现“局部化学 → 纳米尺度结构 → 长程晶体学”的无缝关联。

Empyrean XAS 可提供高质量、高重现性的光谱数据,适用于定性与定量分析。

高能量分辨率支持开展深入的 XANES 分析,包括精确捕捉对氧化态及配位环境高度敏感的边前特征。

在较高能量下,系统提供了适用于EXAFS定量分析的宽 k 空间范围,从而支持提取配位数和原子间距等结构参数。

测量采用透射几何光路,为各类材料的定量结构解析提供了稳健且具高重现性的途径。

Empyrean XAS支持覆盖元素周期表大部分元素的测量,有助于同时研究以下两个方面:

中等原子序数元素(如钛、铁、镍和钼)的 K 吸收边

覆盖以下能量范围:4–20+ keV

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