SciAps X-200

绝佳工具：SciAps X-200 XRF 分析仪完美融合了卓越性能与极具吸引力的价格。

X 射线管：40 kV 铑阳极适用于合金分析，50 kV 金阳极面向地球化学、土壤、RoHS 等其他分析。

探测器速率：20 mm 2 标准硅漂移探测器 (SDD) 和数字脉冲处理器 (DPP)。计数率 125k cps，工作时间 > 90%

SciAps X-200 手持式 XRF 分析仪是优异性能和实惠价格的完美结合。

X-200 的分析速度和性能可与其他品牌的高端分析仪媲美甚至更为优秀。它采用性能出色的硅漂移探测器 (SDD)，深入优化了 X 射线管和探测器的组合结构。凭借出众的检测速度和分析性能以及轻便、小巧的外形设计，X-200 正迅速成为废料处理和无损检测的首选分析仪。

分析仪可以通过以下方式完成出厂校准：基础参数法、康普顿归一化法（EPA 方法 6200）或用户定义的经验校准法。

X-200 分析仪可以对所有合金系列（包括铝合金）进行快速分析。

在地球化学应用方面，它为环境监测、探途、勘探和采矿领域提供多种元素组合。

其他应用场合包括对环境土壤、限用有害物质 (RoHS)、贵金属、汽车催化剂、涂料的分析，还支持 SciAps Empirical App 应用程序，特别适合用户测试其他类型的材料并生成自己的校准模型。

需要测量其他元素？欢迎随时垂询！我们经常为特定应用添加或替换元素。

对于所有元素和材料类型，均采用五光束分析技术，达到卓越性能。

搭载充分优化的 X 射线管，采用轻便的手持式设计，高性能与诱人价格的完美结合。