Phenom ParticleX AM Desktop SEM

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Phenom ParticleX AM Desktop SEM

Desktop SEM 用于增材制造分析，能够观察到最大体积达 100 mm x 100 mm 的大样品。

Thermo Scientific Phenom ParticleX Desktop 扫描电子显微镜 (SEM) 是一款旨在用于增材制造，微量纯度实现的多用途台式 SEM。

适用于粉末层和粉末进料增材制造工艺

识别颗粒大小分布、单个颗粒形态以及异物

Phenom ParticleX AM Desktop SEM 配备了一个电镜室，可分析最大 100 mm x 100 mm 的大样品。专有的排气/装载机制使其具有世界上最快速的排气/负载循环，能提供高 通量。

Phenom ParticleX AM Desktop SEM 具有一个带有准确快速电动样品台的电镜室，可分析最高 100 mm x 100 mm 样品。尽管样品尺寸更大，但专利的循环加载机制可使通气/加载循环保持到行业领先的 60 秒或更短的样品加载时间。实际上，这可改善 SEM 系统的通量因子。

Phenom ParticleX AM Desktop SEM 可测量各种大小和形状参数，例如最小和最大直径、周长、长宽比、粗糙度和铁氧直径。所有这些结果均可以 10%、50%、90% 值（例如、d10、d50、d90）显示。

用户只需点击即可使用 Phenom ParticleX AM Desktop SEM 的元素绘图和线扫描功能。线扫描功能以线图显示量化的元素分布。这对于涂层、涂料以及其他多层应用特别有用，可用于分析边线、涂层、横截面等

ParticleX AM Desktop SEM 可选提供二级电子检测器 (SED)。SED 从样品的顶部表层收集低能量电子。因此，非常适合揭示详细的样品表面信息。SED 很适合拓扑和形态很关键的应用。在研究微结构、纤维或颗粒时，这通常是如此。

产品选择器帮助您为您的研究选择最合适的扫描电子显微镜 (SEM) 系统和软件。在几分钟内找到最适合您研究应用的 SEM：

找到您理想的 Desktop SEM

长寿命的热电子源 (CeB 6 )

160 - 200,000x

960 x 600、1920 x 1200、3840 x 2400 和 7680 x 4800 像素

默认: 5 kV、10 kV 和 15 kV

高级模式：可在 4.8 kV 至 20.5 kV 成像与分析模式之间调节范围

能量色散型 X 射线光谱 (EDS) 检测器（标配）

最大 100 mm x 100 mm（最大 36 x 12 mm 针脚）

最大 40 mm (h)

是否想在不影响可用性的前提下释放扫描电子显微术的强大功能？在我们的 Phenom Desktop SEM 博客中，加深您对台式扫描电子显微术的了解，并了解台式 SEM 如何为您的研究提供最佳支持。

Alexander Bouman，新 Phenom ParticleX。为支持质量控制专业人员，Phenom ParticleX 提供两种型号：用于增材制造的 Phenom ParticleX AM 和用于技术清洁的 Phenom ParticleX TC。

Watch Phenom ParticleX Desktop SEM: Quality Starts at the Microscale

Watch this on-demand webinar to learn how Phenom ParticleX desktop SEMs are the ideal solution for:

ISO 16232 and VDA-19 Compliance for Technical Cleanliness.

ISO 4406 and ISO 4407 for contamination of hydraulic fluids.

Particle morphology for additive manufacturing feedstocks.

Workflow examples for particle classifications and reporting.

网络讲座：扫描电子显微镜：选择适合您需求的技术

这一应要求举办的网络讲座旨在帮助您确定哪一款 SEM 最符合您的独特需求。我们概述了 Thermo Fisher Scientific SEM 技术适合多用户研究实验室，重点介绍这些广泛的解决方案如何实现性能、多功能性、原位动力学以及更快得出结果。如果您有兴趣，请观看该网络讲座：

如何满足不同微区分析模式的需求（EDX、EBSD、WDS、CL 等）。

如何自然状态下表征样品，从而无需进行样品制备。

先进的自动化技术如何使研究人员节省时间并提高生产率。

现代工业需求高通量、质量卓越、通过稳健的工艺控制维持平衡。SEM扫描电镜 和 TEM透射电镜 工具结合专用的自动化软件，为过程监控和改进提供了快速、多尺度的信息。

质量控制和保证对于现代工业至关重要。我们提供一系列用于缺陷多尺度和多模式分析的 EM电子显微镜 和光谱工具，使您可以为过程控制和改进做出可靠、明智的决策。

越来越小的规模研究新型材料，以最大限度地控制其物理和化学特性。电子显微镜 为研究人员提供了对微米到纳米级各种材料特性的重要见解。

现今比以往任何时候都更需要可靠、高质量的组件。借助 扫描电镜，可以实现备件清洁度分析，获得多种分析数据，从而缩短生产周期。

EDS为 电子显微镜 观察提供重要的组分信息。尤其是我们独特的Super-X和Dual-X检测器系统添加了提高通量和/或灵敏度的选项，使您可以优化数据采集以满足您的研究优先级。