E-754
新一代数字控制器提供更高灵活性、精确度和速度。将校准数据从平台ID芯片上自动载入,实现控制器和机械部件的互换性。E-754, dimensions in mm。E-754: Operating limits (open-loop) with various capacitive loads, capacitance values in μF
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将校准数据从平台ID芯片上自动载入,实现控制器和机械部件的互换性
E-754, dimensions in mm
E-754: Operating limits (open-loop) with various capacitive loads, capacitance values in μF
基于高阶多项式的线性化算法利用电容式传感器将线性误差减小至0.01 %以下,这通常比传统控制器好10倍。
对于以扫描应用为典型的快速周期性运动中,利用动态数字线性化(DDL,E-710.SCN)可将跟踪精度提高三倍。
高分辨率数模转换器和高性能电压放大器使该控制器特别适用于高动态操作。传感器采样率为50赫兹的高速处理器可确保稳定时间达毫秒级或更低。
对于配备ID芯片、采用数字电控进行校准的PI纳米级定位系统,ID芯片包含机械部件的校准和伺服控制参数。控制器可以“智能地”读取数据,使自己自动适应已连接的机械部件,因此,更换系统部件后无需重新校准。
集成的波形发生器可以保存和输出周期运动轨迹。预配置的正弦和三角形波形用于帮助用户定义曲线,但用户也可自定义波形。
强大的宏指令语言。非易失宏存储,例如可利用自动运行宏实现独立功能。数据记录器。操作中的参数改变。广泛的软件支持,例如用于LabVIEW、用于Windows和Linux的共享库.
数字式控制器带电容式传感器用于单轴压电陶瓷纳米定位系统
375兆赫兹,64位浮点,DSP/ARM
波形发生器、触发I/O、自动调零、数据记录器、宏
P-I,两个陷波滤波器,可选配的APC
100千赫兹和4.8兆赫兹(LVDS)
以太网(TCP/IP)、SPI、USB、RS-232
| 型号 | E-754 |
|---|---|
| 功能 | 数字式控制器带电容式传感器用于单轴压电陶瓷纳米定位系统 |
| 处理器 | 375兆赫兹,64位浮点,DSP/ARM |
| 支持功能 | 波形发生器、触发I/O、自动调零、数据记录器、宏 |
| 采样率,伺服控制 | 50千赫兹 |
| 采样率,传感器 | 50千赫兹 |
| 传感器 | E-754.1CD |
| 控制器类型 | P-I,两个陷波滤波器,可选配的APC |
| 传感器类型 | 电容式 |
| 传感器带宽 | 8千赫兹 |
| 传感器分辨率 | 19位 |
| 外同步 | 100千赫兹和4.8兆赫兹(LVDS) |
| 放大器 | E-754.1CD |
| 输出电压 | -30到135伏 |
| 峰值输出功率,< 2毫秒 | 45瓦 |
| 平均输出功率 | 15瓦 |
| 峰值输出电流,< 2毫秒 | 500毫安 |
| 平均输出电流 | 20摄氏度时为120毫安 |
| 电流限制 | 防短路 |
| 分辨率DAC | 22位 有效 |
| 接口和操作 | E-754.1CD |
| 通信接口 | 以太网(TCP/IP)、SPI、USB、RS-232 |
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| 压电陶瓷/传感器连接 |
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| Sub-D 7W2(母) |
| 模拟输入 | LEMO,单通道,±10伏,20位ADC |
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