TFXRD Lab
高分辨率X射线衍射(HRXRD)与X射线反射(XRR)系统,可实现非图案化外延薄膜的厚度、密度、表面/界面粗糙度、成分分布、应变、弛豫状态及倒易空间映射(RSM)的多维度表征。系统具备全晶圆映射能力,可覆盖直径达300mm的晶圆,适用于半导体制造的近厂(Near-Fab)应用场景。
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