XRTmicron (Lab)
X射线形貌(XRT)成像系统,可针对功率电子、光电子及5G/6G通信领域的核心半导体材料(碳化硅(SiC)、氮化镓(GaN)、砷化镓(GaAs)、磷化铟(InP)、氧化镓(Ga₂O₃))开展单晶缺陷可视化表征,支持直径达300mm的晶圆测试。
广西科米瑞实验仪器设备有限公司提供 Rigaku XRTmicron (Lab) 产品资料、选型咨询、供货报价和售后服务支持,价格面议。
← 返回产品列表| 产品线 | Semiconductors、X-ray Topography (XRT) |
|---|
请填写必填信息,我们将在工作日尽快回复。