SmartLab Studio II
SmartLab
XRD and X-ray scattering。集成用户权限管理、测量控制、数据分析、数据可视化及报告生成等全流程功能
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说明
X 射线衍射与散射
X 射线荧光光谱仪
手持式拉曼光谱仪
纳米技术与材料科学
半导体与电子器件
生物技术与生命科学
理学牛津衍射论坛
XRR, EDXRF及光学技术
X射线计算机断层扫描
全系列热分析设备
STA (TG-DSC)
微型X射线源及高压系统
毒品、危险品及爆炸物筛查
Products
XRD and X-ray scattering
理学 X 射线衍射仪软件系统
集成用户权限管理、测量控制、数据分析、数据可视化及报告生成等全流程功能
SmartLab Studio II 是理学为旗舰产品 SmartLab X 射线衍射仪开发的新一代 Windows平台集成软件，核心功能涵盖了用户权限管理、测量控制、数据分析、数据可视化及报告生成等全流程功能，目前已适配 MiniFlex系列衍射仪，可实现各功能组件间的前沿级互操作性。
现已登播人工智能驱动模块
SmartLab Studio II 概览
规格
| SLS II无需用户记忆复杂的参数或手动校准系统 | 软件内置的智能引导向导通过交互式提问明确用户的测量目标后，自动完成全流程配置——利用智能传感器检查当前设置、提示必要的调整建议、自动完成光学器件与样品对准，并启动高质量数据采集，全程仅需最小化人工干预。 |
|---|---|
| 用户可以在同一操作界面中并行开展实验扫描监控与数据同步分析 | 通过简洁的流程栏界面，仅需一键就可完成“测量模块→分析模块”的切换，向导将引导完成数据分析与报告生成的全流程。SLS II支持多元化分析场景，包括包括物相鉴定、反射率分析、残余应力测试、倒易空间映射、晶粒尺寸计算、晶格常数精修、Rietveld精修、从头算结构解析、原位或operando分析以及聚类数据分析;其全面的数据可视化工具可简化复杂的数据分析和报告生成流程。 |
| 公告 | 全散射测量与 PDF 分析 |
FAQ
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