SPM-9700HT Plus
原子力显微镜(AFM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope
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原子力显微镜(AFM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。
高分辨扫描探针显微镜
Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope
探知未来 原子力显微镜(AFM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700HT Plus更是性能高、速度快、操作简单的新一代扫描探针显微镜。
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HT扫描器-高速反馈,高速扫描 新开发的可快速响应的HT扫描器加之软件与控制系统设计的优化,成功实现扫描速度比传统设备快5倍以上。
探针专家-便捷操作,轻松换探针 别具一格的探针更换夹具,让小心翼翼的探针更换操作变得简捷轻松。
头部滑动机构-高稳定性&高速分析处理 样品交换时也可保持激光稳定照射悬臂。照射稳定性优异,分析时间也大幅度缩短。
鼠标操作即可实现丰富的3D图像显示 可从不同角度放大拉伸图像进行确认。鼠标操作简单,更可进行3D断面形状分析。
从观察到分析实现无拘无束的可操作性 按照操作指南指导操作顺序,使用导航功能直接锁定观察位置,实现了SPM的快速简便的观察
满足所有要求的功能和扩展性 具备丰富的测定模式和优异的扩展性,可对不同硬度、不同导电性能等各式样品进行观察分析。
粒度分析软件(选配) 针对每个颗粒计算其特征量,同时进行分析、显示以及统计时使用的软件。
高速物性分析(选配) 3D Nano Mapping Fast同时获得表面形貌、杨氏模量硬度分布、粘弹性分布等。
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