sigma
蔡司Sigma场发射扫描电子显微镜是一款高分辨场发射扫描电镜，依托成熟 Gemini 技术，融合静电场与磁场设计，降低样品磁场干扰，实现磁性材料等各类样品的高分辨率成像与精准分析。支持多探测器灵活选配，覆盖失效分析、半导体表征、颗粒分析等领域，搭载自动化工作流与智能报告系统，赋能工业检测质量升级。
广西科米瑞实验仪器设备有限公司提供 ZEISS sigma 产品资料、选型咨询、供货报价和售后服务支持，价格面议。
← 返回产品列表ZEISS Sigma基于成熟的蔡司Gemini技术。Gemini物镜的设计将静电场和磁场相结合，最大限度提高了光学性能，同时将样品处的磁场影响降至最低。因此，即使是在磁性材料等具有挑战性的样品上，也能获得出色的成像效果。
从任何样品中都能获得准确的可重复结果
基于成熟的Gemini技术
灵活检测，图像清晰
Sigma 560具有出色的EDS几何结构
用于工业领域的ZEISS Sigma
Gemini镜内检测概念通过检测二次电子（SE）和/或背向散射电子（BSE）来确保高效的信号检测，从而最大限度地缩短成像时间。Gemini光束增强器技术保证了探测器的小尺寸和高信噪比。
您可以利用全新的检测技术对所有样品进行表征。利用新型ETSE探测器和高真空模式下的InLens探测器，来收集高分辨率地形信息。使用VPSE或C2D探测器在变压模式下获取清晰图像。利用STEM探测器生成高分辨率传输图像，并用HDBSD或YAG探测器调查成分。
材料和制成部件的失效分析
钢和金属的成像与分析
过程控制和诊断中的半导体和电子设备表征
新型纳米材料的高分辨率成像和分析
各种形式的碳和其他二维材料的表征
聚合物材料的成像、分析和区分
开展电池研究，了解老化效应和质量改进
自动颗粒分析和多模态关联成像
关联自动颗粒分析 从制造清洁度和发动机磨损预测到钢铁生产、环境管理和增材制造，蔡司电子显微镜提供的颗粒分析解决方案可使您的工作流自动化并提高重复精度。无缝内置工作流中的光学和电子显微镜关联分析 自动内置光学/电子显微镜报告准确定位污染源更快做出明智决策不断提高生产质量更快获得结果：自动分析取代连续的单独分析，利用内置的机器学习算法更快地进行颗粒检测和测试
关联自动颗粒分析
从制造清洁度和发动机磨损预测到钢铁生产、环境管理和增材制造，蔡司电子显微镜提供的颗粒分析解决方案可使您的工作流自动化并提高重复精度。
无缝内置工作流中的光学和电子显微镜关联分析
自动内置光学/电子显微镜报告
更快做出明智决策
不断提高生产质量
更快获得结果：自动分析取代连续的单独分析，利用内置的机器学习算法更快地进行颗粒检测和测试
| 更快获得结果 | 自动分析取代连续的单独分析，利用内置的机器学习算法更快地进行颗粒检测和测试 |
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