METROTOM 6
蔡司METROTOM 6 scout以先进的细节水平对包括内部几何结构在内的复杂部件进行数字化处理。是用于CT检测和计量的高分辨率的设备。是对塑料部件进行无损检测和三维测量的理想解决方案。
广西科米瑞实验仪器设备有限公司提供 ZEISS METROTOM 6 产品资料、选型咨询、供货报价和售后服务支持，价格面议。
← 返回产品列表ZEISS METROTOM 6 scout以先进的细节水平对包括内部几何结构在内的复杂部件进行数字化处理。其结果是一个完整的三维图像，用于形位公差分析或目标/实际对比。CT计量系统是小型塑料部件数字化的理想选择。
对小型塑料部件进行高分辨率测量
利用其他技术揭秘隐藏的信息
在对部件进行数字化处理时，ZEISS METROTOM 6 scout可实现出色的细节锐度：首先，其使用高分辨率的3k X射线探测器获取测量数据；其次，每个部件均在理想测量位置进行测量，因此分辨率很高。结果如图所示：左侧是使用ZEISS METROTOM 6 scout生成的测量数据，右侧是常规标准数据。
ZEISS METROTOM 6 scout使用数学智能生成准确的三维测量数据。在整个测量过程中，将出色的互联算法与测量室的数字模型相结合。它还为所有与测量相关的部件提供了优化的机械稳定性。要旨：根据测量结果，您可以真正可靠、高度准确地评估部件质量，并进行后续分析。
多材料伪影消除 在从金属到塑料的过渡过程中，查看部件的更多细节：多材料伪影校正功能可显著减少扫描不同材料和厚度的工件时出现的伪影，尤其是在扫描金属和塑料的连接器类部件时。
在从金属到塑料的过渡过程中，查看部件的更多细节：多材料伪影校正功能可显著减少扫描不同材料和厚度的工件时出现的伪影，尤其是在扫描金属和塑料的连接器类部件时。
垂直观察视野扩展 高精度定位系统充分利用了我们在接触式测量领域的专业知识，将系统中可重构的组件尺寸提高到400 mm高。这意味着只需一个自动化流程便能完全采集到大型组件，省去了用户耗时的重新定位和对齐工作。
垂直观察视野扩展
高精度定位系统充分利用了我们在接触式测量领域的专业知识，将系统中可重构的组件尺寸提高到400 mm高。这意味着只需一个自动化流程便能完全采集到大型组件，省去了用户耗时的重新定位和对齐工作。
半圆扫描 半圆扫描是一种扫描模式，在这种模式下，部件只需旋转半圈多一点，而非完整的旋转。这样，您便能以更高的分辨率扫描部件中的特定区域，否则完全旋转就会受到几何限制。
半圆扫描是一种扫描模式，在这种模式下，部件只需旋转半圈多一点，而非完整的旋转。这样，您便能以更高的分辨率扫描部件中的特定区域，否则完全旋转就会受到几何限制。
分隔 自动分隔功能可同时扫描多个部件并自动分别进行评估，大幅减少了扫描时间和操作员交互，进而提高生产率。
自动分隔功能可同时扫描多个部件并自动分别进行评估，大幅减少了扫描时间和操作员交互，进而提高生产率。
ZEISS METROTOM
ZEISS METROTOM 1500 ZEISS METROTOM 1500是一款先进灵活的高速高分辨率CT，适用于多种部件。
ZEISS METROTOM 1500
ZEISS METROTOM 1500是一款先进灵活的高速高分辨率CT，适用于多种部件。
ZEISS METROTOM 800 225 kV HR 这一高速CT是快速、准确扫描大中型高密度部件的理想选择。
ZEISS METROTOM 800 225 kV HR
这一高速CT是快速、准确扫描大中型高密度部件的理想选择。
ZEISS METROTOM 6 scout ZEISS METROTOM 6 scout采用3k X射线探测器，在塑料部件的超高分辨率扫描方面表现出色。
ZEISS METROTOM 6 scout
ZEISS METROTOM 6 scout采用3k X射线探测器，在塑料部件的超高分辨率扫描方面表现出色。
| X射线源 | 225 kV |
|---|---|
| X射线探测器 | 分辨率：3008 × 2512像素 |
| 测量区域 | d:240 mm h:400 mm |
| 尺寸 | H. 2210 mm W. 2200 mm D. 1230 mm |
| 重量 | 4800 kg |
| 应用领域 | 首件检测、工具校正、生产过程中的检测 |
| 检测功能 | 内部结构、壁厚、材料缺陷、孔隙和缩孔 |
| 测量任务 | 形位公差分析、标称-实际比较、装配分析 |
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