德国马尔 Mahr MarSurf VD 280 粗糙度轮廓仪
Mahr / 马尔
MarSurf VD 有一个独特的功能,就是使用一个系统即可完成高精度的轮廓和粗糙度测量。只需更换粗糙度测量系统,即可完成高度准确的粗糙度测量。
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Product overview & applications
产品名称与型号
- MarSurf VD 280 马尔接触式粗糙度仪
- MarSurf VD 280 Mahr轮廓仪
- 德国马尔Mahr MarSurf VD 280 粗糙度轮廓仪
操作周期改善 65 %，是其速度的有力证据。灵活性在于大测量范围、工件灵活性（甚至高达 80 kg）和简单的固定系统。它还支持可重复性，因此有高精度。
MarSurf VD 有一个独特的功能，就是使用一个系统即可完成高精度的轮廓和粗糙度测量。只需更换 粗糙度测量系统，即可完成高度准确的粗糙度测量。
产品信息
MarSurf 系列的所有机器都在通用平台上运行。
•高速测轴和自动化测量序列可缩短测量时间
•创新的固定系统，安装和更换简单快速
•磁性底板，无需工具便可快速更换测杆
•宽敞的支撑板和大测量范围：测量大型工件的理想选择
更换测针系统无需工具
优化的测针系统，一个测量站即可实现高精度的粗糙度和轮廓测量：
•运行过程中更换，减少更换时间
•可以使用轮廓测针系统测量粗糙度，同时有很高的测量范围
•数字接口，安全性高
•更换测针系统，保证高准确度的粗糙度测量
测量快速且简单
简单的夹持系统能够安全、快速且正确地定位工件。
使用了高速测轴和新测针系统，
测量本身的速度可提高 65%（示例为在销上测量）。
整个流程可使用高速 CNC 测轴和 MarWin 自动完成。
这有助于进一步降低工艺成本。
产品特点:
•高速测轴和自动化测量序列可缩短测量时间
•创新的固定系统,安装和更换简单快速
•磁性底板,无需工具便可快速更换测杆
•宽敞的支撑板和大测量范围:测量大型工件的理想选择
•运行过程中更换,减少更换时间
•可以使用轮廓测针系统测量粗糙度,同时有很高的测量范围
•数字接口,安全性高
•更换测针系统,保证高准确度的粗糙度测量
简单的夹持系统能够安全、快速且正确地定位工件。使用了高速测轴和新测针系统,测量本身的速度可提高 65%(示例为在销上测量)。
整个流程可使用高速 CNC 测轴和 MarWin 自动完成。这有助于进一步降低工艺成本。
新型 MarSurf 系列 CD、GD 和 VD 是可提供非常高的速度和灵活性的精密产品。
操作周期改善 65 %，是其速度的有力证据。灵活性在于大测量范围、工件灵活性（甚至高达 80 kg）和简单的固定系统。它还支持可重复性，因此有高精度。
MarSurf VD 有一个独特的功能，就是使用一个系统即可完成高精度的轮廓和粗糙度测量。只需更换 粗糙度测量系统，即可完成高度准确的粗糙度测量。
产品信息
MarSurf 系列的所有机器都在通用平台上运行。
·高速测轴和自动化测量序列可缩短测量时间
·创新的固定系统，安装和更换简单快速
·磁性底板，无需工具便可快速更换测杆
·宽敞的支撑板和大测量范围：测量大型工件的理想选择
更换测针系统无需工具
优化的测针系统，一个测量站即可实现高精度的粗糙度和轮廓测量：
·运行过程中更换，减少更换时间
·可以使用轮廓测针系统测量粗糙度，同时有很高的测量范围
·数字接口，安全性高
·更换测针系统，保证高准确度的粗糙度测量
测量快速且简单
简单的夹持系统能够安全、快速且正确地定位工件。使用了高速测轴和新测针系统，测量本身的速度可提高 65%（示例为在销上测量）。
整个流程可使用高速 CNC 测轴和 MarWin 自动完成。这有助于进一步降低工艺成本。
操作周期改善 65 %，是其速度的有力证据。灵活性在于大测量范围、工件灵活性（甚至高达 80 kg）和简单的固定系统。它还支持可重复性，因此有高精度。
MarSurf VD 有一个独特的功能，就是使用一个系统即可完成高精度的轮廓和粗糙度测量。只需更换 粗糙度测量系统，即可完成高度准确的粗糙度测量。
产品信息
MarSurf 系列的所有机器都在通用平台上运行。
·高速测轴和自动化测量序列可缩短测量时间
·创新的固定系统，安装和更换简单快速
·磁性底板，无需工具便可快速更换测杆
·宽敞的支撑板和大测量范围：测量大型工件的理想选择
更换测针系统无需工具
优化的测针系统，一个测量站即可实现高精度的粗糙度和轮廓测量：
·运行过程中更换，减少更换时间
·可以使用轮廓测针系统测量粗糙度，同时有很高的测量范围
·数字接口，安全性高
·更换测针系统，保证高准确度的粗糙度测量
测量快速且简单
简单的夹持系统能够安全、快速且正确地定位工件。
使用了高速测轴和新测针系统，
测量本身的速度可提高 65%（示例为在销上测量）。
整个流程可使用高速 CNC 测轴和 MarWin 自动完成。
这有助于进一步降低工艺成本。
Technical specifications
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| MarSurf VD 140 / MarSurf VD 280 技术参数 | ||
|---|---|---|
| MarSurf VD 280 | MarSurf VD 140 | |
| 测量行程(in X) | up to 280 mm | up to 140 mm |
| 定位速度 | 0.02-200 mm/s (in X) | 0.02-200 mm/s (in X) |
| 测量速度 | up to 10 mm/s | up to 10 mm/s |
| 导向偏差 | 0.35 μm/60 mm 0.4 μm/140 mm 0.75 μm/280 m | 0.35 μm/60 mm 0.4 μm/140 mm |
| 测量范围mm | 测头系统BFW250 500 μm(±250 μm)使用45 mm测臂 1500 μm(±750 μm)使用135 mm测臂 | 测头系统BFW 250 500 μm(±250 μm)with 45 mm测臂 1500 μm (±750 μm)with 135 mm测臂 |
| 测头系统C11 70 mm使用350 mm测臂 max. 100 mm使用490 mm测臂 | 测头系统C 11 70 mm with 350 mm测臂 max.100 mm with 490 mm测臂 | |
| Machine | ID no. | X-axis 140 mm | X-axis 280 mm | Z-axis 350 mm | Z-axis 600 mm | Angle adjust-ment |
| MarSurf VD 140 BG 12 | 6269020 | X | X | X | ||
| MarSurf VD 140 BG 22 | 6269021 | X | X | X | ||
| MarSurf VD 280 BG 12 | 6269022 | X | X | X | ||
| MarSurf VD 280 BG 22 | 6269023 | X | X | X |
| MarSurf VD 280 | 产品编号 6269022 | |
|---|---|
| 分辨率 | 带粗糙度测头系统： 测量范围 1：2.0 nm 测量范围 2：0.2 nm 带轮廓测头系统： ≤ 6 nm（使用 210 mm 测杆） |
| 扫描长度开始（X 方向） | 0.1 mm |
| 扫描长度末尾（X 方向） | 280 mm |
| 扫描长度 (Lt) | 0.1 - 280 mm |
| 导块偏差 | 带粗糙度测头系统： 0.07 µm / 20 mm 0.35 µm / 60 mm 0.4 µm / 140 mm |
| 测量力 (N) | 带粗糙度测头系统： 0.7 mN 4 mN 至 30 mN，可通过软件调整 |
| 测量速度 | 0.02 mm/s 到 10 mm/s |
| Positioning speed X-axis min. | 0.02 mm/s |
| positioning speed X-axis max. | 200 mm/s |
| 定位速度 (mm/s)，X 轴 | 0.02 - 200 mm/s |
| Positioning speed Z-axis | 0.02 - 50 mm/s |
| Positioning speed Z axis max. | 50 mm/s |
| Positioning speed Z-axis min. | 0.02 mm/s |
| 测头 | 粗糙度测头系统（无导块） 轮廓测头系统 |
| 测杆长度 | 带粗糙度测头系统： 45 mm 至 135 mm 带轮廓测头系统： 210 mm 至 490 mm |
| 重量（毛重） | 200 KG |
| Workpiece weight max. | 90 kg |
| 其他 | manuelle TY |
| 测量范围 mm | 带粗糙度测头系统 500 µm (±250 µm)，用于 45 mm 测杆长度 1500 µm (±750 µm)，用于 135 mm 测杆长度 带轮廓测头系统 70 mm，测杆长 350 mm ≤100 mm，测杆长 490 mm |
| MarSurf VD 280 技术参数 | |
|---|---|
| 分辨率 | 带粗糙度测头系统： 测量范围 1：2.0 nm 测量范围 2：0.2 nm 带轮廓测头系统： ≤6 nm（使用 210 mm 测杆） |
| 扫描长度开始（X 方向） | 0.1 mm |
| 扫描长度末尾（X 方向） | 280 mm |
| 扫描长度 (Lt) | 0.1 - 280 mm |
| 导块偏差 | 带粗糙度测头系统： 0.07 µm / 20 mm 0.35 µm / 60 mm 0.4 µm / 140 mm |
| 测量力 (N) | 带粗糙度测头系统： 0.7 mN 4 mN 至 30 mN，可通过软件调整 |
| 测量速度 | 0.02 mm/s 到 10 mm/s |
| Positioning speed X-axis min. | 0.02 mm/s |
| positioning speed X-axis max. | 200 mm/s |
| 定位速度 (mm/s)，X 轴 | 0.02 - 200 mm/s |
| Positioning speed Z-axis | 0.02 - 50 mm/s |
| Positioning speed Z axis max. | 50 mm/s |
| Positioning speed Z-axis min. | 0.02 mm/s |
| 测头 | 粗糙度测头系统（无导块） 轮廓测头系统 |
| 测杆长度 | 带粗糙度测头系统： 45 mm 至 135 mm 带轮廓测头系统： 210 mm 至 490 mm |
| 重量（毛重） | 200 KG |
| Workpiece weight max. | 90 kg |
| 其他 | manuelle TY |
| 测量范围 mm | 带粗糙度测头系统 500 µm (±250 µm)，用于 45 mm 测杆长度 1500 µm (±750 µm)，用于 135 mm 测杆长度 带轮廓测头系统 70 mm，测杆长 350 mm ≤100 mm，测杆长 490 mm |
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