威尔 WALE FD 系列 表面形貌测量仪

FD系列 表面形貌测量仪 

在精密制造领域,传统的只寸测量已无法满足现代工业对零件质量的严苛要求。常规的尺寸检测虽然能反映零件的几何公差,却难以捕捉表面微观形貌对零件性能的关键影响。

FD形貌测量仪突破传统测量局限,专为高精度零件的微观形貌分析而设计,采用先进的接触式传感器技术可精准测量纳米级至微米级的表面特征。