测量方法
产品概述与应用
产品说明
HORIBA科学仪器部提供全系列的多通道探测器，用于从紫外到近红外的光谱测量，CCD探测器采集速度比单点检测器更快。结合HORIBA的一系列像差校正平场成像光谱仪，可以为各种应用提供OEM方案。
规格参数
| 制冷方式 | 类型 / 量子效率峰值 / 像素阵列 / 像素尺寸 |
|---|---|
| Syncerity | TE 制冷-50°C / BI UV-VIS / 78% / 2048 x 70 / 14 µm x 14 µm |
| TE 制冷-60°C | FI-UV-VIS / 58% / 1024 x 256 / 26 µm x 26 µm |
| TE 制冷–50°C | BI-NIR / 80% / 2048 x 70 / 14 µm x 14 µm |
| TE 制冷–50°C | VUV / 58% / 2048 × 70 / 14 μm × 14 μm |
技术参数
| 品牌 | HORIBA |
|---|---|
| 型号/名称 | Syncerity探测器 |
| 制冷方式 | 类型 / 量子效率峰值 / 像素阵列 / 像素尺寸 |
| Syncerity | TE 制冷-50°C / BI UV-VIS / 78% / 2048 x 70 / 14 µm x 14 µm |
| TE 制冷-60°C | FI-UV-VIS / 58% / 1024 x 256 / 26 µm x 26 µm |
| TE 制冷–50°C | BI-NIR / 80% / 2048 x 70 / 14 µm x 14 µm |
| TE 制冷–50°C | VUV / 58% / 2048 × 70 / 14 μm × 14 μm |
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