测量方法
产品概述与应用
产品说明
微区X射线荧光分析仪在常规的XRF基础上，利用自动平台加X射线头对样品进行扫描，得到元素分布图象，HORIBA微区X射线荧光分析仪可以配备多种尺寸的X射线头兼顾灵敏度和高分辨率.
规格参数
| 型号 | XGT-9000 |
|---|---|
| XGT-9000 Pro | XGT-9000 Expert / XGT-9000 SL |
| 仪器设备 | X 射线荧光分析仪 |
| 原理 | 能量色散 X 射线荧光光谱分析 |
| 可检测元素* | F (9) - Am (95) / B (5) - Am (95) / F (9) - Am (95) |
| 有效样品室尺寸 | 450 mm (W) x 500 mm (D) x 80 mm (H) / mm1030mm(w) x 950mm(D) x 500 mm(H) |
| 最大扫描区域 | 100 mm x 100 mm on 300 mm (W) x 250 mm (D) / 350mm x 350mm |
| 光学观测 | 两个高分辨率相机 |
| 整体图像 细节图像 | 5M像素，视场: 100 mm x 100 mm 5M像素，视场: 2.5 mm x 2.5 mm / 5M像素，视场: 350 mm x 350 mm 5M像素，视场: 2.5 mm x 2.5 mm |
| 光学设计 | 垂直X射线和光学观测并同轴 |
| 样品照明/观察 | 顶部、底部和侧向照明/明场和暗场 |
| 功率 | 最大 50 W |
| 管电压 | 最大 50 kV |
| 管电流 | 最大 1 mA |
| 靶材 | 铑（Rh） |
| X射线头（束斑）选择 | 可提供多种X射线头组合 （例如15μm高强X射线头和100μm高强X射线头的组合） |
| 荧光X射线检测器 | 非液氮制冷硅漂移检测器（SDD） |
| 透射X射线检测器 | NaI (Tl) |
| 样品检测环境 | 全真空 局部真空 大气 氦气模式（可选） / 全真空 局部真空 氦气模式（可选） / 局部真空 大气 氦气模式（可选） |
| 尺寸 | 680 mm (W) x 860 mm (D) x 760 mm (H) / 1090 mm (w) x 1380 mm(D) x 1820 mm(H) |
| 质量 | 约 200 kg / 500 kg |
技术参数
| 品牌 | HORIBA |
|---|---|
| 型号/名称 | XGT-9000 |
| 型号 | XGT-9000 |
| XGT-9000 Pro | XGT-9000 Expert / XGT-9000 SL |
| 仪器设备 | X 射线荧光分析仪 |
| 原理 | 能量色散 X 射线荧光光谱分析 |
| 可检测元素* | F (9) - Am (95) / B (5) - Am (95) / F (9) - Am (95) |
| 有效样品室尺寸 | 450 mm (W) x 500 mm (D) x 80 mm (H) / mm1030mm(w) x 950mm(D) x 500 mm(H) |
| 最大扫描区域 | 100 mm x 100 mm on 300 mm (W) x 250 mm (D) / 350mm x 350mm |
| 光学观测 | 两个高分辨率相机 |
| 整体图像 细节图像 | 5M像素，视场: 100 mm x 100 mm 5M像素，视场: 2.5 mm x 2.5 mm / 5M像素，视场: 350 mm x 350 mm 5M像素，视场: 2.5 mm x 2.5 mm |
| 光学设计 | 垂直X射线和光学观测并同轴 |
| 样品照明/观察 | 顶部、底部和侧向照明/明场和暗场 |
| 功率 | 最大 50 W |
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