
LABORATORY INSTRUMENTS
威尔 WALE Surf10-vf 系列 轮廓度和粗糙度测量仪
WALE / 威尔
驱动器采用创新型一体式铸造结构,一体成型工艺提升结构整体性,搭配高刚性大理石立柱体,有效提升设备的隔振性能,减少外界振动对测量的影响,保障设备长期测量精度与使用寿命。
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MEASUREMENT APPROACH
Product overview & applications
Technical specifications
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| Surf10-vf系列 轮廓度和粗糙度测量仪 技术参数 | ||
|---|---|---|
| 行程长度 | 0.1-130mm | |
| 距离测量显示误差EA(MPE EA)¹ | ±(1+L/150)μm | |
| 半径测量显示误差Rk(MPER)¹ | R≤10mm:±lμm 10mm<R≤20mm:±(0.17+R/12)μm | |
| 残余误差² | 1.8nm | |
| 测量速度 | 轮廓测量速度 | 0.02-2mm/s |
| 粗糙度推荐测量速度 | 0.1mm/s-0.5mm/s | |
| X方向取样间距 | 0.02μm至50μm, 可调整 | |
| 每次测量最多测量点 | 7500000点 | |
| X轴分辨率 | 1.2nm | |
| 测头测量范围 | 15mm | |
| 测头分辨率 | 1.2nm | |
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