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Surf10-vf 威尔 WALE Surf10-vf 系列 轮廓度和粗糙度测量仪
产品与应用图片。
实验室仪器

威尔 WALE Surf10-vf 系列 轮廓度和粗糙度测量仪

WALE / 威尔

驱动器采用创新型一体式铸造结构,一体成型工艺提升结构整体性,搭配高刚性大理石立柱体,有效提升设备的隔振性能,减少外界振动对测量的影响,保障设备长期测量精度与使用寿命。

根据您的样品与应用需求,咨询适用配置。

测量方法

产品概述与应用

卓越稳定机身结构

驱动器采用创新型一体式铸造结构,一体成型工艺提升结构整体性,搭配高刚性大理石立柱体,有效提升设备的隔振性能,减少外界振动对测量的影响,保障设备长期测量精度与使用寿命。

纳米级高精度传感器

配备高精度传感器,X轴与测头分辨率均高达1.2nm,测量精度达到高精度水平,能够精准捕捉零件表面的细微轮廓与粗糙度差异,测量数据精准可靠,满足高端测量需求。

一键全参数同步分析

搭载Profile Tracer 4.0智能测量软件,操作便捷,一次测量即可同步完成表面尺寸、轮廓度、波纹度及粗糙度的全面分析,自动生成规范报告,大幅提升测量效率。

威尔WALE Surf10-vf系列 轮廓度和粗糙度测量仪

技术概览

技术参数

左右滑动表格,可查看完整参数。

Surf10-vf系列 轮廓度和粗糙度测量仪 技术参数
行程长度0.1-130mm
距离测量显示误差EA(MPE EA)¹±(1+L/150)μm
半径测量显示误差Rk(MPER)¹R≤10mm:±lμm
10mm<R≤20mm:±(0.17+R/12)μm
残余误差²1.8nm
测量速度轮廓测量速度0.02-2mm/s
粗糙度推荐测量速度0.1mm/s-0.5mm/s
X方向取样间距0.02μm至50μm, 可调整
每次测量最多测量点7500000点
X轴分辨率1.2nm
测头测量范围15mm
测头分辨率1.2nm
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