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Bettersize C400光学颗粒计数器

颗粒计数与真密度仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 Bettersize C400光学颗粒计数器

Bettersize C400光学颗粒计数器

是丹东百特仪器有限公司新研制的具有国际先进水平的光阻与角散射结合的颗粒计数器。由于大颗粒对光的遮挡作用较强，所以光阻法主要用来测试40-400μm的较粗和粗颗粒；由于细颗粒对光的散射作用较强，所以角散射法主要用来测试0.5-40μm的细颗粒。两种测试方式相互结合，相互印...

技术参数: 产品介绍 Bettersize C400光学颗粒计数器是丹东百特仪器有限公司新研制的具有国际先进水平的光阻与角散射结合的颗粒计数器。由于大颗粒对光的遮挡作用较强，所以光阻法主要用来测试40-400μm的较粗和粗颗粒；由于细颗粒对光的散射作用较强，所以角散射法主要用来测试0.5-40μm的细颗粒。两种测试方式相互结合，相互印证，拓展了仪器测量范围同时也确保了测量的准确性。BettersizeC400除具有独特的光阻和角散射系统外，还有下列先进技术：一是采用了平顶光技术，克服了相同粒径的颗粒在高斯
技术参数: Bettersize C400光学颗粒计数器是丹东百特仪器有限公司新研制的具有国际先进水平的光阻与角散射结合的颗粒计数器。由于大颗粒对光的遮挡作用较强，所以光阻法主要用来测试40-400μm的较粗和粗颗粒；由于细颗粒对光的散射作用较强，所以角散射法主要用来测试0.5-40μm的细颗粒。两种测试方式相互结合，相互印证，拓展了仪器测量范围同时也确保了测量的准确性。
技术参数: BettersizeC400除具有独特的光阻和角散射系统外，还有下列先进技术：一是采用了平顶光技术，克服了相同粒径的颗粒在高斯光束中的不同位置上的光阻和角散射信号不一致，造成结果不准确的弊端，进一步保证了测试结果的准确性。二是研制了速度高达40Mbyte/s的高速信号采集与传输系统，保证不丢失一个有效颗粒。三是在量程的每一个区段（粗、较粗、中、较细、细）上都用通过国家认证的颗粒度标准样品标定，保证了全量程每个段都准确。
技术参数: 在实际测试中，颗粒在逐个通过毛细管测量区时，会因为遮挡和散射使横穿毛细管的激光束的光强瞬间发生变化，产生与颗粒大小成正比的光阻和角散射信号，通过光学传感器将这些光信号转化为电信号，并通过USB3.0将信号传输到电脑中，用专门的分析软件对这些信号进行还原分析，从而得到该样品中的颗粒个数、颗粒分布以及清洁度等级等结果。

BT-1600图像颗粒分析系统

图像颗粒分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-1600图像颗粒分析系统

BT-1600图像颗粒分析系统

BT-1600静态图像颗粒分析系统由光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒...

技术参数: 产品介绍 BT-1600静态图像颗粒分析系统由光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒度和粒形信息，再将每一个颗粒的粒度和粒形信息进行统计，从而得到粒度（D50）及粒度分布、平均长径比及长径比分布、平均圆形度及圆形度分布等结果。BT-1600静态图像颗粒分析系
技术参数: BT-1600静态图像颗粒分析系统由光学显微镜、数字CCD摄像头、图像处理与分析软件、电脑、打印机等部分组成。它是将传统的显微测量方法与现代的图像处理技术结合的产物。它的基本工作流程是通过专用数字摄像机将显微镜的图像拍摄下来并传输到电脑中，通过专门的颗粒图像分析软件对颗粒图像进行处理与分析，从而得到每一个颗粒的粒度和粒形信息，再将每一个颗粒的粒度和粒形信息进行统计，从而得到粒度（D50）及粒度分布、平均长径比及长径比分布、平均圆形度及圆形度分布等结果。
技术参数: BT-1600静态图像颗粒分析系统还具有很多独特的图像处理功能，包括自动拍摄、自动分割、自动填充、批处理多幅图像、准确性标定等。其中众多的“自动”功能简化了操作，提高了效率；批处理多幅图像功能，彻底克服了传统的静态图像颗粒分析系统仅能分析单幅图像，导致颗粒数太少，代表性不足，结果不准确的问题。它可以拍摄很多幅图像，对这些图像一幅一幅地处理，每一幅处理过的图像上的颗粒都汇集到一起，提高了代表性。
技术参数: ●标定方法：用显微镜专用标准刻度尺直接标定每个像素的尺寸，再根据每个颗粒图像面积所占的像素多少来度量颗粒的大小，以微米为单位。

BT-1700扫描图像粒度粒形分析系统

图像颗粒分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-1700扫描图像粒度粒形分析系统

BT-1700扫描图像粒度粒形分析系统

BT-1700静态扫描图像粒度粒形分析系统是一种高性能的静态图像颗粒分析系统。用在对粉体材料颗粒分析时叫作粒度粒形分析系统。BT-1700性能独特之处有以下四点：一是显微镜具有自动载物台，能自动拍摄不同位置的颗粒图像；二是具有自动对焦功能，保证所拍摄的每一幅图像中的颗粒都是最清晰的；三是具有相邻视场无缝拍摄功能，...

技术参数: 产品介绍 BT-1700静态扫描图像粒度粒形分析系统是一种高性能的静态图像颗粒分析系统。用在对粉体材料颗粒分析时叫作粒度粒形分析系统。BT-1700性能独特之处有以下四点：一是显微镜具有自动载物台，能自动拍摄不同位置的颗粒图像；二是具有自动对焦功能，保证所拍摄的每一幅图像中的颗粒都是最清晰的；三是具有相邻视场无缝拍摄功能，并能把这些连续的小图像无缝合成一幅大图像，就像是一次拍摄的放大了几百倍甚至上千倍的照片一样；四是根据不同物质的颗粒对光的吸收和反射特性不同这一特征，通过分析每一个颗粒的图像亮
技术参数: 在粒度粒形分析中，BT-1700能把载玻片上的每一个颗粒一次全部分析完。得出的粒度信息包括每一个颗粒的粒径、最大颗粒、中位径、粒度分布数据和曲线等；得出的粒形信息包括每一个颗粒的球形度和长径比等粒形参数，以及球形度和长径比分布数据和曲线。

BT-2900动态图像粒度粒形分析系统

图像颗粒分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-2900动态图像粒度粒形分析系统

BT-2900动态图像粒度粒形分析系统

主要适用于粗的、粒状材料的粒度粒形分析领域，如金刚砂、研磨材料、机制砂、河沙等。它的测试过程是将20g左右的样品放到储料漏斗里，通过电磁振动加料器和布料槽将颗粒分散开，并在布料槽的末端自由下落，高速摄像机在下落过程中拍摄颗粒图像，并通过电脑对这些图像进行分析，从而得到粒度与粒...

技术参数: 产品介绍 BT-2900动态图像粒度粒形分析系统主要适用于粗的、粒状材料的粒度粒形分析领域，如金刚砂、研磨材料、机制砂、河沙等。它的测试过程是将20g左右的样品放到储料漏斗里，通过电磁振动加料器和布料槽将颗粒分散开，并在布料槽的末端自由下落，高速摄像机在下落过程中拍摄颗粒图像，并通过电脑对这些图像进行分析，从而得到粒度与粒形数据。与静态图像粒度粒形分析仪拍摄载物片上静止不动的颗粒不同，BT-2900是在颗粒下落状态下拍摄颗粒图像的，因此我们把它叫做干法动态图像粒度粒形分析系统。这种系统可实现亚
技术参数: 与静态图像粒度粒形分析仪拍摄载物片上静止不动的颗粒不同，BT-2900是在颗粒下落状态下拍摄颗粒图像的，因此我们把它叫做干法动态图像粒度粒形分析系统。这种系统可实现亚毫米和毫米级颗粒的精确粒度粒形测量，在粗颗粒的粒度粒形分析领域一枝独秀。它通过分散和布料系统实现自动进样，不但简化操作，还减少了人为因素的影响，提高了准确性。高速摄像机实现动态连续拍摄，一次能拍摄数万、十几万甚至几十万个颗粒，对这么大量的颗粒进行分析，充分保证了样品的代表性，保证结果准确。同时，图像处理软件能自动判断和提取粘连颗粒，
技术参数: BT-2900的分析项目包括粒度和粒形两大类，粒度分析项目有每一个颗粒的粒径、最大颗粒、典型值、特定区间含量、小于或大于某一粒径含量、粒度分布数据和分布曲线；粒形分析包括每一个颗粒的圆形度、长径比、凸起度、椭圆比、实积度等，同时能得出每一种粒形参数的分布数据和曲线。
技术参数: （1）粒度：包括粒度分布、典型值、最大粒径、特定区间含量、大于或小于某粒径的含量（2）粒形：长径比及分布、圆形度及分布、纵横比及分布、颗粒图像

BT-2800长径比分析系统

图像颗粒分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-2800长径比分析系统

BT-2800长径比分析系统

是采用了鞘流技术的动态粒度粒形分析系统，它由显微镜、鞘流样品池、微量泵、进口摄像机、搅拌分散系统等组成。它的工作过程是将样品放到烧杯里制成一定浓度的悬浮液，通过搅拌器和分散器将样品分散好以后，用微量泵将样品抽取出来，注入到鞘流样品池中，同时，鞘液泵也将鞘液（一般为纯净水）注入鞘流样品池...

技术参数: 产品介绍 BT-2800长径比分析系统是采用了鞘流技术的动态粒度粒形分析系统，它由显微镜、鞘流样品池、微量泵、进口摄像机、搅拌分散系统等组成。它的工作过程是将样品放到烧杯里制成一定浓度的悬浮液，通过搅拌器和分散器将样品分散好以后，用微量泵将样品抽取出来，注入到鞘流样品池中，同时，鞘液泵也将鞘液（一般为纯净水）注入鞘流样品池中并将样品流包裹在中间，二者一起从样品池中流过，在流动过程中摄像机通过显微镜连续拍摄颗粒图像并传输到电脑中进行分析，从而得到粒度和粒形参数。与静态图像粒度粒形分析仪拍摄载物
技术参数: BT-2800长径比分析系统是采用了鞘流技术的动态粒度粒形分析系统，它由显微镜、鞘流样品池、微量泵、进口摄像机、搅拌分散系统等组成。它的工作过程是将样品放到烧杯里制成一定浓度的悬浮液，通过搅拌器和分散器将样品分散好以后，用微量泵将样品抽取出来，注入到鞘流样品池中，同时，鞘液泵也将鞘液（一般为纯净水）注入鞘流样品池中并将样品流包裹在中间，二者一起从样品池中流过，在流动过程中摄像机通过显微镜连续拍摄颗粒图像并传输到电脑中进行分析，从而得到粒度和粒形参数。
技术参数: 与静态图像粒度粒形分析仪拍摄载物片上静止不动的颗粒不同，BT-2800是在颗粒流动状态下拍摄颗粒图像的，这就是动态图像粒度粒形分析系统的由来。这种系统的优点如下：一是通过微量泵和搅拌分散系统实现自动进样，不但简化操作，还减少了人为因素的影响，提高了准确性。二是能连续不同地拍摄，每个样品都能拍摄数万、十几万甚至几十万个颗粒，对这么多的颗粒进行分析，保证了样品的代表性好，保证结果准确。三是采用边缘识别技术进行图像处理，每分钟能处理1-2万个颗粒，这样的图像处理速度，一边拍摄一边在屏幕上实时显示每个
技术参数: BT-2800的分析项目包括粒形和粒度两大类，粒形分析包括排每一个颗粒的长径比、圆形度、凸起度、椭圆比、实积度等，同时能得出每一种粒形参数的分布数据和曲线等。粒度分析项目包括每一个颗粒的粒径、最大颗粒、典型值、特定区间含量、小于或大于某一粒径含量、粒度分布数据和分布曲线等。

BeNano 90 纳米粒度分析仪

表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 90 纳米粒度分析仪

BeNano 90 纳米粒度分析仪

B eNano90纳米粒度分析仪是基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在 90°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相关曲线，结合数学方法得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程得到样品的粒度分布结果。基本性能...

技术参数: 产品介绍 B eNano90纳米粒度分析仪是基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在 90°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相关曲线，结合数学方法得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程得到样品的粒度分布结果。基本性能指标 1、粒径检测(动态光散射法) 粒径范围 0.3 nm - 15 μm* 最小样品量最小3μL，常规1ml（可订制其它容量）* 检测角度 90° 粒径算法 Cumula
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

BeNano 90 纳米粒度分析仪

表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano Zeta 电位分析仪

BeNano Zeta 电位分析仪

BeNa no Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Z...

技术参数: 产品介绍 BeNa no Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。基本性能指标 1、Zate电位测试 Zeta范围无实际限制原理相位分析光散射PALS 电泳迁移率范围 > ±20 μ.cm/V.s 电导率范围 0 -
技术参数: BeNa no Zeta 电位分析仪是丹东百特仪器公司开发的测量颗粒体系 Zeta 电位的光学检测系统。BeNano Zeta 系统基于电泳光散射原理，样品分散在样品池中，在样品池两端施加一个电场，通过激光照射到电场中的样品上，光电检测器在 12°角检测样品颗粒电泳运动造成的散射光的多普勒频移，进而得到体系的 Zeta 电位信息。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: 样品的Zeta电位和粒径对于分散液介质环境具有强烈的依赖性，尤其是环境pH，不但影响Zeta电位的大小，而且会影响颗粒体系的带电符号。BAT-1自动滴定仪与BeNano系列连用，内置三个高精度滴定泵和一个样品输送泵，具有样品搅拌能力，可以对于样品的粒径和Zeta电位进行自动化的酸碱滴定测试，具有测试效率高、精确定量、重复性好、结果不依赖于操作者等特点。由于盛放样品的样品管可抛弃，避免了交叉污染的风险。

BeNano 90 纳米粒度分析仪

表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 180 纳米粒度分析仪

BeNano 180 纳米粒度分析仪

是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向 173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相关曲线，结合数...

技术参数: 产品介绍 BeNano 180 纳米粒度分析仪是丹东百特仪器公司开发的采用背向散射技术用于检测纳米颗粒粒度及其分布的光学检测系统。它基于动态光散射原理，样品分散在样品池中，通过激光照射到样品上，光电检测器在背向 173°角检测样品颗粒布朗运动造成的散射光强随时间的波动，再通过相关器进行自相关运算得出样品的自相关曲线，结合数学方法就可以得到颗粒的扩散系数，进一步利用斯托克斯 - 爱因斯坦方程就可以得到样品的粒度结果。基本性能指标 1、粒径检测粒径范围 0.3 nm - 10 μm* 最小样品量
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

BeNano 90 纳米粒度分析仪

表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化...

技术参数: 产品介绍 BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标 1、粒径检测粒径范围 0.3 nm - 15 μm* 最小样品量最小3μL，常规1ml（可
技术参数: BeNano 90 Zeta 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光学检测系统。该系统中集成了动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

BeNano 90 纳米粒度分析仪

表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪

是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地...

技术参数: 产品介绍 BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标 1、粒径检测粒径范围 0.3 nm - 10 μm* 最小样品量最小40μL（可订
技术参数: BeNano 180 Zeta 纳米粒度及 Zeta电位分析仪是 BeNano 180+BeNano Zeta 的二合一光学检测系统。该系统中集成了背向动态光散射 DLS、电泳光散射 ELS 和静态光散射技术 SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta 电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛地应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

BeNano 90 纳米粒度分析仪

表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪

BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪

是BeNano90+BeNano 180+BeNano Zeta三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向+90°动态光散射 DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分...

技术参数: 产品介绍 BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano90+BeNano 180+BeNano Zeta三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向+90°动态光散射 DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。基本性能指标 1、粒径检测粒径范围 0.3 nm - 15 μm* 样品量
技术参数: BeNano 180 Zeta Pro 纳米粒度及Zeta电位分析仪是BeNano90+BeNano 180+BeNano Zeta三合一的顶级光学检测系统。该系统中集成了背向+90°动态光散射 DLS、电泳光散射ELS和静态光散射技术SLS，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量信息等参数，可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究和质量分析与控制。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

BeNano 90 纳米粒度分析仪

表面电荷/Zeta 电位分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位分析仪

BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位分析仪

BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是丹东百特仪器有限公司，新推出的表征纳米体系特性的顶级光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率以及颗粒...

技术参数: 产品介绍 BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是丹东百特仪器有限公司，新推出的表征纳米体系特性的顶级光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率以及颗粒物浓度等参数，可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究、质量分析和质量控制。基本性能指标 1、粒径检测(动态光散射法) 粒径范围 0.3 nm - 15
技术参数: BeNano 180 Zeta Max 纳米粒度及Zeta电位仪是丹东百特仪器有限公司，新推出的表征纳米体系特性的顶级光学检测系统。该系统中集成了动态光散射DLS、电泳光散射ELS、静态光散射SLS以及透射光检测技术，可以准确地检测颗粒的粒径及粒径分布、Zeta电位、高分子和蛋白体系的分子量、液体的折射率以及颗粒物浓度等参数，可广泛应用于化学、化工、生物、制药、食品、材料等领域的基础研究、质量分析和质量控制。
技术参数: 快、中、慢多模式，最快25 ns采样，最多 4000通道，10 11 动态线性范围
技术参数: BeNano动静态流动模式（Flow Mode）是将纳米粒度及Zeta电位仪同一个分离前端（FFF、GPC/SEC）相连接。分离前端可以根据尺寸将样品进行分离，依次流出。通过检测每个流出组分的动态光散射信号和静态光散射号，并结合分离前端的示差折光RI或者紫外UV信号，得到高分辨率且不依赖于计算模型的粒径分布、分子量分布信息。

BetterPyc 380多功能真密度仪（固含量）

颗粒计数与真密度仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BetterPyc 380多功能真密度仪（固含量）

BetterPyc 380多功能真密度仪（固含量）

BetterPyc 380 多功能真密度仪由丹东百特仪器有限公司研制，并配套电脑端操作软件 EasyPyc，用于测试样品的体积、密度、固含量及开孔率，具有多功能性、自动化程度高、操作便捷、速度快、精度高、重复性好等优点。只需操作真密度仪软件，根据要求输入样品信息和测试条件，便可全自动测试样品体积、密度、固含量或开...

技术参数: 产品介绍 BetterPyc 380 多功能真密度仪由丹东百特仪器有限公司研制，并配套电脑端操作软件 EasyPyc，用于测试样品的体积、密度、固含量及开孔率，具有多功能性、自动化程度高、操作便捷、速度快、精度高、重复性好等优点。只需操作真密度仪软件，根据要求输入样品信息和测试条件，便可全自动测试样品体积、密度、固含量或开孔率，并输出全面的分析结果。测试原理 BetterPyc 380 基于气体置换法设计，该方法目前已得到全球公认可用于测试样品体积或密度。采用气体置换法，在样品仓中加入样
技术参数: BetterPyc 380 多功能真密度仪由丹东百特仪器有限公司研制，并配套电脑端操作软件 EasyPyc，用于测试样品的体积、密度、固含量及开孔率，具有多功能性、自动化程度高、操作便捷、速度快、精度高、重复性好等优点。只需操作真密度仪软件，根据要求输入样品信息和测试条件，便可全自动测试样品体积、密度、固含量或开孔率，并输出全面的分析结果。
技术参数: BetterPyc 380 基于气体置换法设计，该方法目前已得到全球公认可用于测试样品体积或密度。采用气体置换法，在样品仓中加入样品，密封样品仓后通入分析气体，测量出样品仓压力，然后开启扩展阀气体扩散到扩展仓中，测量平衡压力，根据气体定律得出样品的真实体积，进而计算样品密度、开孔率或固含量。

BT-103 粉体休止角测试仪

粉体特性测试仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-103 粉体休止角测试仪

BT-103 粉体休止角测试仪

BT-103是一种用于粉体休止角测试的仪器，它采用注入限定底面法。BT-103粉体休止角测试仪满足标准GB/T 16913-2008、美国药典USP<1174>和欧洲药典EP 2.9.36。休止角是指在静平衡状态下，粉体堆积斜面与底部水平面所夹的锐角。它是通过特定方式使粉体自然下落到特定平台上形成的。休止角大小直...

技术参数: 产品介绍 BT-103是一种用于粉体休止角测试的仪器，它采用注入限定底面法。BT-103粉体休止角测试仪满足标准GB/T 16913-2008、美国药典USP<1174>和欧洲药典EP 2.9.36。休止角是指在静平衡状态下，粉体堆积斜面与底部水平面所夹的锐角。它是通过特定方式使粉体自然下落到特定平台上形成的。休止角大小直接反映粉体的流动性，休止角越小，粉体的流动性越好。休止角也称安息角或自然坡度角。该仪器广泛用于制药与食品、工业化学、能源电池粉末、科研院校、质检机构等相关粉末、粉体及颗粒材料检
技术参数: ● 测量休止角：待粉体全部流出后，用量角器测量粉体锥体母线与水平面所成夹角，然后轻轻转动接料盘120°和240°位置并测量角度。把上述三个角度取平均值，该平均值就是这个粉体的休止角（θr）。

BT-Inline300智能水下激光测沙仪

特种激光粒度分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-Inline300智能水下激光测沙仪

BT-Inline300智能水下激光测沙仪

该仪器由长江水利委员会水文局荆江水文水资源勘测局和丹东百特仪器有限公司联合开发研制而成。将 BT-Inline300 放入水中到达设定深度后，就开始自动测试颗粒级配、含沙量。在工作过程中，可根据含沙量自动调节测试区的距离，调节范围为 0.5 - 40 mm，适用的含沙量范围在 0.001-100 kg/ m³，在...

技术参数: 产品介绍该仪器由长江水利委员会水文局荆江水文水资源勘测局和丹东百特仪器有限公司联合开发研制而成。将 BT-Inline300 放入水中到达设定深度后，就开始自动测试颗粒级配、含沙量。在工作过程中，可根据含沙量自动调节测试区的距离，调节范围为 0.5 - 40 mm，适用的含沙量范围在 0.001-100 kg/ m³，在连线或无线状态下可直接将测试数据实时传送至 PC 端，在离线状态下测试数据将保存在存储卡中，在上岸后将仪器与 PC 相连接读取测试数据。● BT-Inline300：长期
技术参数: 该仪器由长江水利委员会水文局荆江水文水资源勘测局和丹东百特仪器有限公司联合开发研制而成。将 BT-Inline300 放入水中到达设定深度后，就开始自动测试颗粒级配、含沙量。在工作过程中，可根据含沙量自动调节测试区的距离，调节范围为 0.5 - 40 mm，适用的含沙量范围在 0.001-100 kg/ m³，在连线或无线状态下可直接将测试数据实时传送至 PC 端，在离线状态下测试数据将保存在存储卡中，在上岸后将仪器与 PC 相连接读取测试数据。
技术参数: 0.001–100kg/m³（极限值与粒径等有关）
技术参数: 颗粒级配、含沙量、水深、水温等，直接测量，不用事先标定。

BeSEC光散射检测器

凝胶渗透色谱系统丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeSEC光散射检测器

BeSEC光散射检测器

BeSEC 光散射检测器是丹东百特仪器有限公司最新推出的静态光散射检测器系统，可以与市场上任何第三方的色谱前端相连接，通过检测每一个被分离的流出组分的散射光信号，结合接收到的示差折光检测器或者紫外检测器得到的浓度信号，计算样品绝对分子量Mn、Mw、Mz以及分子量分布等信息。基本性能指标功能和参数 BeSEC L...

技术参数: 产品介绍 BeSEC 光散射检测器是丹东百特仪器有限公司最新推出的静态光散射检测器系统，可以与市场上任何第三方的色谱前端相连接，通过检测每一个被分离的流出组分的散射光信号，结合接收到的示差折光检测器或者紫外检测器得到的浓度信号，计算样品绝对分子量Mn、Mw、Mz以及分子量分布等信息。基本性能指标功能和参数 BeSEC LS1 BeSEC LS2 系统参数激光半导体激光器 640 nm 能量 10 m W 检测角度 90 ° 7° 和 90 ° 容积 18 μL 采样率 5 Hz 分子量和
技术参数: 其中c为样品的浓度，θ为测量的角度，R θ 为θ角方向的瑞利散射比，Mw 为分子量，A 2 为第二维利系数，K为与（dn/dc） 2 相关的常数，P(θ)为结构因子。检测过程中，BeSEC作为一个光散射检测器与凝胶色谱前端相连接，收集直角90°和小角7°光散射信号以及前端的示差或者紫外信号，通过BeSEC工作站软件计算得到分子量分布和平均分子量Mn、Mw、Mz的信息。

BeVision D3动态图像粒度粒形分析仪

图像颗粒分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeVision D3动态图像粒度粒形分析仪

BeVision D3动态图像粒度粒形分析仪

BeVision D3系列是一款全新开发的具有先进水平的自动化粒度粒形分析仪。其采用动态图像法的测量原理，搭载BV-F10干法重力分散器和双CMOS数字成像系统。样品装载在料斗中，料槽通过振动分散和运送颗粒，颗粒在自由落体运动过程中进一步分散，同时高速相机采集运动颗粒图像并进行实时分析，几分钟即可完成测试，输出粒...

技术参数: 产品介绍 BeVision D3系列是一款全新开发的具有先进水平的自动化粒度粒形分析仪。其采用动态图像法的测量原理，搭载BV-F10干法重力分散器和双CMOS数字成像系统。样品装载在料斗中，料槽通过振动分散和运送颗粒，颗粒在自由落体运动过程中进一步分散，同时高速相机采集运动颗粒图像并进行实时分析，几分钟即可完成测试，输出粒径粒形结果，为流动性和分散性较好的颗粒和粉体材料测量提供了效率的解决方案。全新开发的BeVision 5.0软件不仅能够提供37个粒度、粒形测量参数的分布结果及多种关键统计量
技术参数: BeVision D3系列是一款全新开发的具有先进水平的自动化粒度粒形分析仪。其采用动态图像法的测量原理，搭载BV-F10干法重力分散器和双CMOS数字成像系统。样品装载在料斗中，料槽通过振动分散和运送颗粒，颗粒在自由落体运动过程中进一步分散，同时高速相机采集运动颗粒图像并进行实时分析，几分钟即可完成测试，输出粒径粒形结果，为流动性和分散性较好的颗粒和粉体材料测量提供了效率的解决方案。
技术参数: 全新开发的BeVision 5.0软件不仅能够提供37个粒度、粒形测量参数的分布结果及多种关键统计量，更多的升级功能和新增功能能够帮助用户实现更加全和便捷的数据分析工作。
技术参数: 粒径粒形分布图及分级数据、散点图、单颗粒图像、单颗粒粒径粒形数据、9种类型的典型值（可自定义）

Bettersize2600咖啡粉专用激光粒度分析仪

特种激光粒度分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 Bettersize2600咖啡粉专用激光粒度分析仪

Bettersize2600咖啡粉专用激光粒度分析仪

Bettersize 2600咖啡粉专用型激光粒度分析仪，采用了创新的直线进样路径和专用文丘里系统。这使得咖啡粉能够顺畅地通过测量区域，既无弯曲也无死角，并且实现了自动清洁功能，确保数据的准确性和测试的高效率。此外，该仪器采用百特专利的正反傅里叶光路设计，结合高灵敏度探测器阵列，仅用一束激光即可实现0.016°...

技术参数: 产品介绍 Bettersize 2600咖啡粉专用型激光粒度分析仪，采用了创新的直线进样路径和专用文丘里系统。这使得咖啡粉能够顺畅地通过测量区域，既无弯曲也无死角，并且实现了自动清洁功能，确保数据的准确性和测试的高效率。此外，该仪器采用百特专利的正反傅里叶光路设计，结合高灵敏度探测器阵列，仅用一束激光即可实现0.016°-165°散射光信号采集，具备宽量程、高精度、强分辨力和高测试效率等多重优势。即使颗粒以高速通过，也不会有任何遗漏。它还确保在单次快速测量中，能够广泛覆盖从0.1-2600μ
技术参数: Bettersize 2600咖啡粉专用型激光粒度分析仪，采用了创新的直线进样路径和专用文丘里系统。这使得咖啡粉能够顺畅地通过测量区域，既无弯曲也无死角，并且实现了自动清洁功能，确保数据的准确性和测试的高效率。此外，该仪器采用百特专利的正反傅里叶光路设计，结合高灵敏度探测器阵列，仅用一束激光即可实现0.016°-165°散射光信号采集，具备宽量程、高精度、强分辨力和高测试效率等多重优势。即使颗粒以高速通过，也不会有任何遗漏。它还确保在单次快速测量中，能够广泛覆盖从0.1-2600μm粒度分布
技术参数: BT-903（特殊支架）干法分散介质：压缩空气或惰性气体适合压力范围：0.1-0.8MPa （常用0.1-0.4MPa）
技术参数: 适合压力范围：0.1-0.8MPa （常用0.1-0.4MPa）

Bettersize2000S喷雾激光粒度分析仪

特种激光粒度分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 Bettersize2000S喷雾激光粒度分析仪

Bettersize2000S喷雾激光粒度分析仪

Bettersize2000S喷雾激光粒度分析仪是丹东百特研制的专门用于测试雾滴粒度分布的激光粒度仪。该系统由主机、光轴基准架、升降支架、喷头调节系统、雾滴发生系统和软件组成。其作用是通过测量雾滴粒度优化喷嘴设计、确定喷雾压力、评价喷雾效果等。与常规激光粒度仪在样品厚度较小（样品池厚度小于5mm）状态下...

技术参数: 产品介绍 Bettersize2000S喷雾激光粒度分析仪是丹东百特研制的专门用于测试雾滴粒度分布的激光粒度仪。该系统由主机、光轴基准架、升降支架、喷头调节系统、雾滴发生系统和软件组成。其作用是通过测量雾滴粒度优化喷嘴设计、确定喷雾压力、评价喷雾效果等。与常规激光粒度仪在样品厚度较小（样品池厚度小于5mm）状态下进行粒度测试不同，雾滴激光粒度仪的样品厚度较宽（通常在100-1000mm）。为适应这种特殊情况，Bettersize2000S采用国际标准推荐的傅里叶光学系统，用一束平行
技术参数: Bettersize2000S喷雾激光粒度分析仪是丹东百特研制的专门用于测试雾滴粒度分布的激光粒度仪。该系统由主机、光轴基准架、升降支架、喷头调节系统、雾滴发生系统和软件组成。其作用是通过测量雾滴粒度优化喷嘴设计、确定喷雾压力、评价喷雾效果等。
技术参数: Bettersize2000S喷雾激光粒度仪具有动态范围宽，准确性和重复性好，操作简便，适应面广泛等突出特点，并设有自动对中和测量区任意调整系统，适用于农药、植保、医药喷雾剂评价、各种喷嘴研究等领域。在医药喷雾剂，农药喷洒，各种发动机燃烧效率研究方面，都可提供可靠的检测数据，其准确性和重复性指标完全符合国际标准。
技术参数: ①基础型：测量区0-700mm可调（适用小喷嘴） ②延长型：测量区0-1200mm可调（适用大喷嘴） ③升降型：测量区0-1200mm可调，带升降系统（适用大喷嘴，可测不同位置） ④综合型：测量区0-1200mm可调，带升降系统（适用小喷嘴、大喷嘴、可测不同位置，可提供雾滴发生装置）

BT-Online MW 湿法在线颗粒粒度粒形监测系统

在线激光粒度监测与控制系统丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-Online MW 湿法在线颗粒粒度粒形监测系统

BT-Online MW 湿法在线颗粒粒度粒形监测系统

BT-Online MW 可以测量一些悬浮液及湿式颗粒，测量范围在 10 μm - 10 mm。由循环输送装置将样品输送到测量区域，保证均匀进样和稳定的分析条件。样品流过超亮平面 LED 光源之后，颗粒投影会被镜头捕捉并分析。基本性能指标测试范围 10-10000μm 粒形范围 1 - 200( 长径比 )，0...

技术参数: 产品介绍 BT-Online MW 可以测量一些悬浮液及湿式颗粒，测量范围在 10 μm - 10 mm。由循环输送装置将样品输送到测量区域，保证均匀进样和稳定的分析条件。样品流过超亮平面 LED 光源之后，颗粒投影会被镜头捕捉并分析。基本性能指标测试范围 10-10000μm 粒形范围 1 - 200( 长径比 )，0.01 - 1( 其他粒形参数 ) 含粉量测试范围 0% - 10% 测量参数分析数据 ( 包括细度模数、石粉含量、长径比、圆形度、分计筛余、累计筛余 ) 分布图形 ( 分
技术参数: BT-Online MW 可以测量一些悬浮液及湿式颗粒，测量范围在 10 μm - 10 mm。由循环输送装置将样品输送到测量区域，保证均匀进样和稳定的分析条件。样品流过超亮平面 LED 光源之后，颗粒投影会被镜头捕捉并分析。
技术参数: 1 - 200( 长径比 )，0.01 - 1( 其他粒形参数 )
技术参数: 本系统搭载 500 万像素高端工业相机，配合高亮度长寿命 LED 平面光源，凭借其极高的分辨率与极短的曝光时间，既能精准捕捉微小颗粒的清晰图像，又实现了宽阔的颗粒测量范围。

BT-Online MD 干法在线颗粒粒度粒形监测系统

在线激光粒度监测与控制系统丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BT-Online MD 干法在线颗粒粒度粒形监测系统

BT-Online MD 干法在线颗粒粒度粒形监测系统

BT-Online MD 用于分析粒径在 10 μm - 10 mm 的干燥、流动性好的大颗粒材料。该系统通过软件控制的自动漏斗实现均匀进样，确保分析条件稳定。样品在自由落体状态下穿过超亮平面 LED 光源，其投影由高精度镜头实时捕捉并自动分析。整个测量过程无需接触样品，可实现无损、无损耗的快速粒度分析。基本性能...

技术参数: 产品介绍 BT-Online MD 用于分析粒径在 10 μm - 10 mm 的干燥、流动性好的大颗粒材料。该系统通过软件控制的自动漏斗实现均匀进样，确保分析条件稳定。样品在自由落体状态下穿过超亮平面 LED 光源，其投影由高精度镜头实时捕捉并自动分析。整个测量过程无需接触样品，可实现无损、无损耗的快速粒度分析。基本性能指标测试范围 10-10000μm 粒形范围 1 - 200( 长径比 )，0.01 - 1( 其他粒形参数 ) 含粉量测试范围 0% - 10% 测量参数分析数据 (
技术参数: BT-Online MD 用于分析粒径在 10 μm - 10 mm 的干燥、流动性好的大颗粒材料。该系统通过软件控制的自动漏斗实现均匀进样，确保分析条件稳定。样品在自由落体状态下穿过超亮平面 LED 光源，其投影由高精度镜头实时捕捉并自动分析。整个测量过程无需接触样品，可实现无损、无损耗的快速粒度分析。
技术参数: 1 - 200( 长径比 )，0.01 - 1( 其他粒形参数 )
技术参数: 本系统搭载 500 万像素高端工业相机，配合高亮度长寿命 LED 平面光源，凭借其极高的分辨率与极短的曝光时间，既能精准捕捉微小颗粒的清晰图像，又实现了宽阔的颗粒测量范围。

BeScan Lab+稳定性分析仪

稳定性分析仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号 BeScan Lab+稳定性分析仪

BeScan Lab+稳定性分析仪

仪器简介 BeScan Lab+是丹东百特基于静态多重光散射（SMLS）技术研发的新一代超灵敏稳定性分析系统。仪器通过对样品进行程序化垂直扫描，捕获透射光与背散射光信号的空间及时间演变，实现对悬浮液、乳液、泡沫、浆料等分散体系的原位监测。其光学灵敏度较肉眼提升200倍以上，能够精准捕捉微观粒子的沉降、上浮、絮凝及...

技术参数: 仪器简介 BeScan Lab+是丹东百特基于静态多重光散射（SMLS）技术研发的新一代超灵敏稳定性分析系统。仪器通过对样品进行程序化垂直扫描，捕获透射光与背散射光信号的空间及时间演变，实现对悬浮液、乳液、泡沫、浆料等分散体系的原位监测。其光学灵敏度较肉眼提升200倍以上，能够精准捕捉微观粒子的沉降、上浮、絮凝及尺寸变化等不稳定行为。BeScan Lab+不仅能提供量化的不稳定性指数 (I US )，还能借助AI智能解析深入洞察失稳机理，助力研发人员极大地缩短配方评价周期，在产品研发与生产质
技术参数: BeScan Lab+是丹东百特基于静态多重光散射（SMLS）技术研发的新一代超灵敏稳定性分析系统。仪器通过对样品进行程序化垂直扫描，捕获透射光与背散射光信号的空间及时间演变，实现对悬浮液、乳液、泡沫、浆料等分散体系的原位监测。其光学灵敏度较肉眼提升200倍以上，能够精准捕捉微观粒子的沉降、上浮、絮凝及尺寸变化等不稳定行为。BeScan Lab+不仅能提供量化的不稳定性指数 (I US )，还能借助AI智能解析深入洞察失稳机理，助力研发人员极大地缩短配方评价周期，在产品研发与生产质控中实现从
技术参数: ● 非接触无损测量——无需稀释、无剪切，真实反映样品原始状态
技术参数: ● 广泛的适用范围——样品体积分数最高可达 95%，覆盖极稀至极浓体系

组合多功能X射线衍射仪

x射线衍射仪丹东百特仪器 / Bettersize Instruments型号组合多功能X射线衍射仪

组合多功能X射线衍射仪

组合式多功能X射线衍射仪，广泛应用于各种材料结构分析。包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料等。应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。揭示材料晶体结构和化学信息的科学仪器 ● 未知样品中一种和多种物相鉴定 ● 混合样品中已知相定量分析 ● 晶体...

技术参数: 产品介绍组合式多功能X射线衍射仪，广泛应用于各种材料结构分析。包括：金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料等。应用于粘土矿物、水泥建材、环境粉尘、化工制品、药品、石棉、岩矿、聚合物等研究领域。揭示材料晶体结构和化学信息的科学仪器 ● 未知样品中一种和多种物相鉴定 ● 混合样品中已知相定量分析 ● 晶体结构解析（Rietveld结构分析） ● 非常规条件下晶体结构变化（高温、低温条件下） ● 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度 ● 微区样品的分析
技术参数: ● 封闭正比计数器，SDD硅漂移探测器、半导体阵列探测器选择使用，既保证最佳质量数据，又极大提高样品测量速度。

型号 UF V 350 | 超低温冰箱使用碳中和制冷剂

超低温冰箱使用碳中和制冷剂BINDER型号 UF V 350

型号 UF V 350 | 超低温冰箱使用碳中和制冷剂

属于同级别设备中能耗最低的环保制冷剂 R-290 和 R-170 真空隔热板（VIP）使用寿命超长的隔热系统由不锈钢制成的无锈内腔室使用选项和附件配置您的产品，并直接在此处请求

型号: UF V 350
一般数据 - 产品编码: 9020-0453 | 9020-0454 | 9020-0455
一般数据 - 目录名称: UFV350-230V | UFV350UL-120V | UFV350UL-240V
一般数据 - 选购型号: 标准 | 标准 | 标准

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