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MarSurf UD 130 德国马尔 Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪
产品与应用图片。
实验室仪器

德国马尔 Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪

Mahr / 马尔

粗糙度及轮廓测量 高精度测量 及 130 mm 扫描路径

根据您的样品与应用需求,咨询适用配置。

测量方法

产品概述与应用

产品名称与型号

  • MarSurf UD 130 Mahr接触式粗糙度仪
  • MarSurf UD 130 马尔轮廓仪
  • 德国马尔Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪

MarSurf UD 130 通过两个驱动单元填补了高端解决方案 MarSurf LD 130 / LD 260 和新标准组合测量站 MarSurf VD 140 / 280 之间的空白。

MarSurf UD 130 的技术规格是以高质量的干涉测头系统为基础,测量和定位速度快,可以减少每个工件的测量时间。

德国马尔Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪

德国马尔Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪





产品特点:

• 一步完成粗糙度和轮廓测量

• 高测量和定位速度可大幅减少测量时间

• 创新的测头系统解决方案

• 快速可靠的测杆更换,磁性支架同步检测测杆

德国马尔Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪

MarSurf UD 130 通过两个驱动单元填补了高端解决方案 MarSurf LD 130 / LD 260 和新标准组合测量站 MarSurf VD 140 / 280 之间的空白。

MarSurf UD 130 的技术规格是以高质量的干涉测头系统为基础,测量和定位速度快,可以减少每个工件的测量时间。

产品特点:


• 一步完成粗糙度和轮廓测量

• 高测量和定位速度可大幅减少测量时间

德国马尔Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪

德国马尔Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪

• 创新的测头系统解决方案

• 快速可靠的测杆更换,磁性支架同步检测测杆

MarSurf UD 130 通过两个驱动单元填补了高端解决方案 MarSurf LD 130 / LD 260 和新标准组合测量站 MarSurf VD 140 / 280 之间的空白。

MarSurf UD 130 的技术规格是以高质量的干涉测头系统为基础,测量和定位速度快,可以减少每个工件的测量时间。

产品特点:

• 一步完成粗糙度和轮廓测量

• 高测量和定位速度可大幅减少测量时间

德国马尔Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪

德国马尔Mahr MarSurf UD 130 粗糙度轮廓仪

• 创新的测头系统解决方案

• 快速可靠的测杆更换,磁性支架同步检测测杆

技术概览

技术参数

左右滑动表格,可查看完整参数。

Mar Surf UD 130 技术参数
数据的获得基于标准测针LPD14-10-2/60°
水平轴
扫描长度(Lt)0.1mm~130   mm
安全外壳
(含可自动关闭对应进给电机的安全保护传感器)
前,后
定位速度0.1 mm/s~30 mm/s
测量速度0.1 mm/s~5mm/s;
粗糙度测量,推荐0.1 mm/s~0.5 mm/s
X方向取样间距0.25μm~10 μm可调
每次测量最大测量点数520000点
分辨率2 nm
测量力1mN~30 mN,软件中可调整
测头系统(w)测量方向Z+/Z-
测头测量范围10 mm
分辨率2 nm
测量力1mN~30 mN,软件中可调整
残余误差Rzo,Rqo
测量和评价条件按照DIN EN ISO 3274,Lc=0.25mm,Lc/Ls=100
vt=0.1 mm/s时的残余误差
vt=0.5 mm/s时的残余误差
Rz<40 nm
Rz<50 nm
轮廓
所有的信息参考VDI/VDE 2629文件1-MPE最大允许误差
测量条件参照测臂数据文件
长度L和半径R值以mm为单位
距离测量显示误差EA(MPEEA)±(1.0+2*L/150)μm;L为mm
半径测量显示误差Rk(MPER) (R≤10 mm)±1.5μm
 (10 mm<R≤300 mm)±(3R/20)μm,R为mm
一般参数
工作环境温度+15℃ to+35℃
满足技术指标的建议工作温度20℃±2K
根据VDI/VDE标准推荐测量室等级26272或更好
MarSurf UD 130 | 产品编号 6720823
分辨率2 nm
扫描长度开始(X 方向)0.1 mm
扫描长度末尾(X 方向)130 mm
扫描长度 (Lt)0.1 - 130 mm
导块偏差

0.12 µm / 60 mm

0.40 µm / 130 mm

测量力 (N)1 mN 至 30 mN,可软件调整
测量速度0.1 mm/s 到 5 mm/s
Positioning speed X-axis min.0.1 mm/s
positioning speed X-axis max.30 mm/s
定位速度 (mm/s),X 轴0.1 - 30 mm/s
测头集成粗糙度和轮廓测头系统
测杆长度100 mm、150 mm、200 mm
重量(毛重)23 KG
测量范围 mm

10 mm(100 mm 测杆)

20 mm(200 mm 测杆)

MarSurf UD 130 技术参数
分辨率2 nm
扫描长度开始(X 方向)0.1 mm
扫描长度末尾(X 方向)130 mm
扫描长度 (Lt)0.1 - 130 mm
导块偏差

0.12 µm / 60 mm

0.40 µm / 130 mm

测量力 (N)1 mN 至 30 mN,可软件调整
测量速度0.1 mm/s 到 5 mm/s
Positioning speed X-axis min.0.1 mm/s
positioning speed X-axis max.30 mm/s
定位速度 (mm/s),X 轴0.1 - 30 mm/s
测头集成粗糙度和轮廓测头系统
测杆长度100 mm、150 mm、200 mm
重量(毛重)23 KG
测量范围 mm

10 mm(100 mm 测杆)

20 mm(200 mm 测杆)

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