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ITC-3200vf 威尔 WALE ITC-3200vf 双向轮廓仪
产品与应用图片。
实验室仪器

威尔 WALE ITC-3200vf 双向轮廓仪

WALE / 威尔

测量过程中,智能追踪系统可根据被测轮廓斜率,实时动态调节 X 轴测量速度与 Z 轴位移量,确保在任意轮廓斜度下,X 轴测点间距均保持均匀一致。采集所得数据无需额外修正,即可直接满足数据处理算法对点云数据等间隔采集的规范要求。

根据您的样品与应用需求,咨询适用配置。

测量方法

产品概述与应用

轮廓表面测点等间距采集

测量过程中,智能追踪系统可根据被测轮廓斜率,实时动态调节 X 轴测量速度与 Z 轴位移量,确保在任意轮廓斜度下,X 轴测点间距均保持均匀一致。采集所得数据无需额外修正,即可直接满足数据处理算法对点云数据等间隔采集的规范要求。

Z向垂直测量

突破传统测针圆弧运动局限,创新采用 Z 向垂直直上直下运动轨迹,真实还原坐标点位测量,有效减小圆弧轨迹带来的测量误差,同时实现更大 Z 向量程覆盖,进一步提升测量精度与适用范围。

高效调整适配多行业

即放即测无需预调,大幅缩减装调耗时。可高效适配轴承、丝杆、螺纹、导轨滑块等多种工件的精密轮廓测量,具备优异的通用性,轻松满足多行业、多场景检测需求。

威尔WALE ITC-3200vf 双向轮廓仪

技术概览

技术参数

左右滑动表格,可查看完整参数。

ITC-3200vf 双向轮廓仪 技术参数
测量范围Z轴测量范围320mm
X轴测量范围320mm
测量速度0.2-2mm/s
系统分辨率0.001μm
总误差±(0.9+L/100)μm
X方向测量点距离0.2-25μm
半径误差±0.005%(R为12mm)
距离误差±(1.2+L/100) μm
角度误差≤50”
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