
Insitec 干法
可在苛刻工业环境中使用的Insitec干式颗粒粒度分析仪,采用激光衍射技术测量0.1 µm至2500 µm的颗粒粒度。Insitec干式分析仪通过选件进行配置,适合各种实际的干式颗粒工艺,提供24小时实时监测与控制
- 测量类型
- 颗粒粒度
- 测量范围:
- 0.1至2500µm
- 测量原理:
- 激光衍射
- 光学模型
- 米氏理论
显微镜、成像系统、光学平台与光学测量设备
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备
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可在苛刻工业环境中使用的Insitec干式颗粒粒度分析仪,采用激光衍射技术测量0.1 µm至2500 µm的颗粒粒度。Insitec干式分析仪通过选件进行配置,适合各种实际的干式颗粒工艺,提供24小时实时监测与控制

工业化设计,Insitec 喷雾型使用激光衍射发适用于测量0.1微米-2500微米的液滴和颗粒。具有24小时实时监测及控制功能的Insitec喷雾式分析仪甚至还可测量高浓度喷雾及气溶胶

在乳液、悬浮液和浆液中测量 0.1 - 2500 µm。可在苛刻工业环境中使用的Insitec湿式颗粒粒度分析仪,采用激光衍射技术测量乳剂、悬浮剂及浆液中0.1 µm至2500 µm的颗粒粒度