MDPspot 灵活的自动扫描系统
低成本桌面式寿命测量系统，用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作Z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。MDPspot包括附加电阻率测量选项。只测量硅的电阻，对于没有高度调节可能性的晶片，或者对于砖。这两个选项中的一个是预先定义的。优势 用于单点测量少子寿命的台式装...
- 型号
- MDPspot
- 产品分类
- / 光伏测量仪器 / 少子寿命测试仪 / MDPspot MDPspot
低成本桌面式寿命测量系统，用于手动操作表征不同制备阶段的各种不同硅样品。可选的手动操作Z轴用于厚度多达156毫米的样品。标准软件可输出可视化的测量结果。MDPspot包括附加电阻率测量选项。只测量硅的电阻，对于没有高度调节可能性的晶片，或者对于砖。这两个选项中的一个是预先定义的。优势 用于单点测量少子寿命的台式装...
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备