结合椭偏反射CER的 SE 500adv
厚度确定 椭偏测量和反射测量的结合允许通过自动识别循环厚度周期来快速且明确地确定透明膜的厚度。宽的测量范围 激光椭偏仪和反射仪的结合将透明薄膜的厚度范围扩展到25μm,更多地取决于光度计的选项。扩展激光椭偏仪的极限 性能优异的多角度手动角度计和角度精度优越的激光椭偏仪允许测量单层薄膜和层叠膜的折射率、消光系数和膜厚。SE 500adv结合了椭偏仪和反射...
- 型号
- CER Ellipsometer
- 产品分类
- / 薄膜测量仪器 / 激光椭偏仪 / 激光椭偏仪SE 500adv CER Ellipsometer