
Sonix Echo 扫描声学显微镜
ECHO scanning acoustic microscope 是无损超声缺陷检测设备,用于实验室或生产线中的封装半导体开发、生产和失效分析。
- 型号
- Echo
- 缺陷检测
- air defects as thin as 0.05 micron
- 空间分辨
- down to 10 microns
显微镜、成像系统、光学平台与光学测量设备
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备
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