
JIB-PS500i 双束加工观察系统
为原子级分辨率透射电镜观察而设计的用于制备各种高质量样品的FIB-SEM系统。JIB-PS500i提供三种协助TEM样品制备的解决方案,是最适用样品制备和分析的FIB-SEM系统
广西科米瑞实验仪器设备有限公司 · 第 1 / 1 页 · 共 1 条
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备
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为原子级分辨率透射电镜观察而设计的用于制备各种高质量样品的FIB-SEM系统。JIB-PS500i提供三种协助TEM样品制备的解决方案,是最适用样品制备和分析的FIB-SEM系统