
Xtrology
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- 型号/名称
- Xtrology
- 膜层厚度
- 测量薄膜厚度与薄膜质量,单层或多层分析
- 光学特性
- 精确测量光学折射率n, 消光系数k*5, 和禁带宽度Eg*6
- 结晶度
- 材料晶体结构的均匀性评估等
显微镜、成像系统、光学平台与光学测量设备
材料表征、热分析、力学、粒度、表面和物性测试设备
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