XSeeker 8000
新研发的控制软件Xseeker 可操作性强，数据处理量超出普通水平。清晰的图像、强大的处理量，从产品研发、质量评估中的细微观察到加工现场的检查，可满足用户的诸多使用要求。
- 型号/名称
- XSeeker 8000
Xslicer SMX-1010
为搭载90kV微焦点X射线发生装置和高分辨率平板检测器的垂直照射型X射线装置。与旧机型（SMX-1000 Plus）相比，画质有了大幅改善，广受好评的操作性也得到了进一步提升。在操作性提升的同时，载物台移动速度、检测器捕获速度也有提高，可大幅缩短检查时间。实现透视检查作业的效率化。CT单元（选配）也简化了操作流程，操作性更佳。
- 型号/名称
- Xslicer SMX-1010
Xslicer SMX-6010
是一款坚直照射型x射线检查设备，配备了岛津生产的微焦点x射线发生器和高分辦率平板探测器。通过高清晰度和宽动态范围图像，可以观察到细微的内部结构和缺陷。此外，可以简单快速地进行透视/CT模式切换，根据工作要求实施多种观察。Xslicer SMX-6010所覆盖的检查从体积不断缩小的电子元件到密度日益提高的多层实装基板。
- 型号/名称
- Xslicer SMX-6010
电子部件、实装基板
BGA·CSP的气泡·裂纹·接合状态。Xslicer SMX-1010 该设备具有清晰的图像和简洁的操作，可提高检查效率，也可以倾斜观察。Xslicer SMX-1010能够连续检查大尺寸基板和托盘上的部件
- 型号/名称
- 电子部件、实装基板
DIA-10
动态颗粒图像分析仪可用于颗粒形状，粒度以及数量浓度的分析。Dynamic Particle Image Analysis System。动态颗粒图像分析仪可用于颗粒形状，粒度以及数量浓度的分析
- 型号/名称
- DIA-10
SALD-2300
粉状原料的粒度分布对药物、化妆品、食品、充电电池和其他成品的性能有重大影响，是质量控制的重要指标。Laser Diffraction Particle Size Analyzer
- 型号/名称
- SALD-2300
EPMA-1720 Series
岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度·高精度·高分辨率的基础上，又新增了简单·易懂的操作性能，将电子探针功能发挥至极致。Electron Probe Microanalyzer
- 型号/名称
- EPMA-1720 Series
EPMA-8050G
从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有优越空间分辨率的场发射电子光学系统。Electron Probe Microanalyzer。“The Grand EPMA” 诞生
- 型号/名称
- EPMA-8050G
SPM-9700HT Plus
原子力显微镜（AFM）是在样品表面用微小的探针进行扫描，通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope
- 型号/名称
- SPM-9700HT Plus
SPM-Nanoa
扫描探针显微镜/原子力显微镜,由宏入微，顺手随心。Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope。自动观察 自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理扫描
- 型号/名称
- SPM-Nanoa
AXIS Supra+
集样品全自动传输、全自动分析、智能数据采集处理于一体，体现了便捷性。Imaging X-Ray Photoelectron Spectrometer。X射线光电子能谱，也被称为ESCA（化学分析用电子能谱），是一种几乎不受样品形态限制的表面分析技术，可提供元素及元素化学态信息
- 型号/名称
- AXIS Supra+
DSC-60 Plus/60 A Plus
差示扫描量热仪（DSC）是材料测试必不可少的工具，此类仪器广泛应用于材料研发、生产及质控。DSC作为质控仪器方法的趋势仍在继续增加。
- 型号/名称
- DSC-60 Plus/60 A Plus
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