XSeeker 8000
新研发的控制软件Xseeker 可操作性强，数据处理量超出普通水平。清晰的图像、强大的处理量，从产品研发、质量评估中的细微观察到加工现场的检查，可满足用户的诸多使用要求。
- 型号/名称
- XSeeker 8000
Xslicer SMX-1010
为搭载90kV微焦点X射线发生装置和高分辨率平板检测器的垂直照射型X射线装置。与旧机型（SMX-1000 Plus）相比，画质有了大幅改善，广受好评的操作性也得到了进一步提升。在操作性提升的同时，载物台移动速度、检测器捕获速度也有提高，可大幅缩短检查时间。实现透视检查作业的效率化。...
- 型号/名称
- Xslicer SMX-1010
Xslicer SMX-6010
是一款坚直照射型x射线检查设备，配备了岛津生产的微焦点x射线发生器和高分辦率平板探测器。通过高清晰度和宽动态范围图像，可以观察到细微的内部结构和缺陷。此外，可以简单快速地进行透视/CT模式切换，根据工作要求实施多种观察。Xslicer SMX-6010所覆盖的检查从体积不断缩小的电...
- 型号/名称
- Xslicer SMX-6010
电子部件、实装基板
BGA·CSP的气泡·裂纹·接合状态。Xslicer SMX-1010 该设备具有清晰的图像和简洁的操作，可提高检查效率，也可以倾斜观察。Xslicer SMX-1010能够连续检查大尺寸基板和托盘上的部件
- 型号/名称
- 电子部件、实装基板
DIA-10
动态颗粒图像分析仪可用于颗粒形状，粒度以及数量浓度的分析。Dynamic Particle Image Analysis System。动态颗粒图像分析仪可用于颗粒形状，粒度以及数量浓度的分析
- 型号/名称
- DIA-10
SALD-2300
粉状原料的粒度分布对药物、化妆品、食品、充电电池和其他成品的性能有重大影响，是质量控制的重要指标。Laser Diffraction Particle Size Analyzer
- 型号/名称
- SALD-2300
EPMA-1720 Series
岛津EPMA在保持了一贯的高灵敏度·高精度·高分辨率的基础上，又新增了简单·易懂的操作性能，将电子探针功能发挥至极致。Electron Probe Microanalyzer
- 型号/名称
- EPMA-1720 Series
EPMA-8050G
从SEM观察条件到1μA量级，在各种束流条件下都拥有优越空间分辨率的场发射电子光学系统。Electron Probe Microanalyzer。“The Grand EPMA” 诞生
- 型号/名称
- EPMA-8050G
SPM-9700HT Plus
原子力显微镜（AFM）是在样品表面用微小的探针进行扫描，通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope
- 型号/名称
- SPM-9700HT Plus
SPM-Nanoa
扫描探针显微镜/原子力显微镜,由宏入微，顺手随心。Scanning Probe Microscope/Atomic Force Microscope。自动观察 自动完成光路调整、扫描参数设定、图像处理扫描
- 型号/名称
- SPM-Nanoa
AXIS Supra+
集样品全自动传输、全自动分析、智能数据采集处理于一体，体现了便捷性。Imaging X-Ray Photoelectron Spectrometer。X射线光电子能谱，也被称为ESCA（化学分析用电子能谱），是一种几乎不受样品形态限制的表面分析技术，可提供元素及元素化学态信息
- 型号/名称
- AXIS Supra+
DSC-60 Plus/60 A Plus
差示扫描量热仪（DSC）是材料测试必不可少的工具，此类仪器广泛应用于材料研发、生产及质控。DSC作为质控仪器方法的趋势仍在继续增加。
- 型号/名称
- DSC-60 Plus/60 A Plus
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