蔡司Crossbeam 350 FIB-SEM
蔡司Crossbeam 350将蔡司Ion-sculptor FIB切割技术与蔡司Gemini 1成像和可变压力技术相结合，能够支持广泛的应用，包括不导电、磁性以及不兼容高真空的样品
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蔡司Crossbeam 550 FIB-SEM
蔡司Crossbeam 550结合了Gemini 2 SEM成像功能与蔡司Ion-sculptor FIB切割功能，可快速去除材料并提供出色的表面细节。其专为要求严苛的成像和分析应用而打造，能以可重复且易于操作的方式支持复杂工作流，适用于三维断层扫描、微纳加工和TEM薄片制备等高级应用
蔡司GeminiSEM
可助您轻松实现亚纳米级分辨率的成像。出色的成像和分析技术更使FE-SEM（场发射扫描电子显微镜）如虎添翼。我们采用创新的电子光学系统和全新样品仓设计，不仅操作更加简便，用途更加灵活多样，还可为您带来更高的图像质量。无需水浸物镜即可拍摄低于1 kV的亚纳米级图像。探索蔡司Gemini电子光学系统的三种设计：
蔡司Sigma 拥有高品质成像和高级显微分析功能的FE-SEM
蔡司Sigma系列产品集场发射扫描电子显微镜（FE-SEM）技术与良好的用户体验于一体，可轻松实现成像和分析程序，提高工作效率。您可以将其用于新材料和颗粒的质量监测，或用于生物和地质样品的研究
Scios 2 DualBeam
Thermo Scientific 是一套超高分辨率的分析 聚焦离子束扫描电子显微镜 (FIB-SEM) 系统，可为包括磁性和非导电材料在内的各种样品提供出色的样品制备与 3D 表征性能
Helios 5 DualBeam
Extreme nanoscale precision for imaging and TEM sample preparation
Tescan QuiiN™
Precise Multi-Ion Implantation for Discovering the Full Spectrum of New Materials Possibilities
- Brand
- TESCAN
- Model / series
- QuiiN
- Instrument class
- Multi-ion implantation system
- Primary workflow
- Nanoscale materials modification
Tescan NanoSpace™
Versatile System for Optimized Performance at Ultra-High Vacuum
- Brand
- TESCAN
- Model / series
- NanoSpace
- Instrument class
- Modular UHV FIB-SEM system
- Primary workflow
- Ultra-high vacuum nanoscale imaging and modification