红外光谱椭偏仪 SENDIRA
椭偏振动光谱 利用红外光谱中分子振动模的吸收带，可以分析薄膜的组成。此外，载流子浓度可以用傅立叶红外光谱仪FTIR测量。傅立叶红外光谱仪FTIR完全适用 集成赛默飞世尔Thermo Fisher制造的型号FTIR iS50红外光谱仪。它也适用于一般的振动光谱。光谱椭偏仪SENDIRA用于测量薄膜厚度，折射率，消光系数以及体材料，单层和多层堆叠膜的相关特...
- 型号
- SENDIRA
- 产品分类
- / 薄膜测量仪器 / 光谱椭偏仪 / SENDIRA:红外光谱椭偏仪 SENDIRA
- 红外光谱范围
- 400 cm-1 ～6,000 cm-1 (1.7 µm – 25 µm)光谱范围内提供了极好的精度和分辨率
- 波长范围
- 1.7 µm – 25 µm)光谱范围内提供了极好的精度和分辨率