X'Pert³ 系列X射线衍射仪
X'Pert 平台在马尔文帕纳科 X 射线衍射系统的新型 X'Pert³ 系列中得以延用。X'Pert³ 平台具有新型机载控制电子装置，符合X 射线和运动安全规范，且具有环保和可靠性能，已准备好迎接未来的挑战
- X'Pert³ MRD - 技术类型
- X 射线衍射 (XRD)
- X'Pert³ MRD - 测量类型
- 物相鉴定；物相定量；薄膜测量；残余应力；界面粗糙度；外延附生分析；织构分析；倒易空间分析
- X'Pert³ MRD - Wafer max. diameter
- 100 mm
- X'Pert³ MRD XL - 技术类型